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UNIVERSIDADE ESTADUAL DO CEARÁ
FRANCISCO ANDERSON DE SOUSA LIMA
ELETRODEPOSIÇÃO DE FILMES FINOS DE CdTe
PARA APLICAÇÃO EM CÉLULAS SOLARES
FOTOVOLTÁICAS
FORTALEZA CEARÁ
2010
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2
FRANCISO ANDERSON DE SOUSA LIMA
ELETRODEPOSIÇÃO DE FILMES FINOS DE CdTe
PARA APLICAÇÃO EM CÉLULAS SOLARES
FOTOVOLTÁICAS
Dissertação apresentada ao Curso de Mestrado
Acadêmico em Ciências sicas Aplicadas do Centro de
Ciência e Tecnologia, da Universidade Estadual do
Ceará, como requisito parcial para a obtenção do grau
de Mestre em Ciências Físicas Aplicadas.
Área de concentração: Energias Renováveis
Orientador: Prof. Dr. Rui Carlos Barros da Silva
Co-orientador: Prof. Dr. Marcos Antônio Araújo Silva.
FORTALEZA - CEARÁ
2010
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3
ANTÔNIO CARLOS SANTANA DOS SANTOS
L732e Lima, Francisco Anderson de Sousa
Eletrodeposição de filmes finos de CdTe para
aplicação em células solares fotovoltáicas/ Francisco
Anderson de Sousa Lima. Fortaleza, 2010.
114 p.; il.
Orientador: Prof. Dr. Rui Carlos Barros da Silva.
Co-Orientador: Prof. Dr. Marcos Antônio Araújo Silva
Dissertação (Mestrado Acadêmico em Ciências Físicas
Aplicadas) Universidade Estadual do Ceará, Centro de
Ciência e Tecnologia.
1. Energia Solar 2. CdTe 3. Eletrodeposição. I.
Universidade Estadual do Ceará, Centro de Ciência e
Tecnologia.
CDD: 333.7
4
FRANCISCO ANDERSON DE SOUSA LIMA
ELETRODEPOSIÇÃO DE FILMES FINOS DE CdTe PARA APLICAÇÃO EM
CÉLULAS SOLARES FOTOVOLTÁICAS
Dissertação apresentada à
coordenação do Curso de Pós-
Graduação em Ciências Físicas
Aplicadas da Universidade Estadual
do Ceará como requisito parcial para
a obtenção do grau de Mestre em
Ciências Físicas Aplicadas.
Aprovado em: ____/____/_______
BANCA EXAMINADORA
______________________________________________
Prof. Dr. Rui Carlos Barros da Silva (Orientador)
Universidade Estadual do Ceará UECE
____________________________________________________
Prof.Dr. Francisco Nivaldo Aguiar Freire
Universidade Federal do Ceará UFC
____________________________________________________
Prof. Dr. Lutero Carmo de Lima
Universidade Estadual do Ceará UECE
____________________________________________________
Prof. Dr. José Francisco Julião
Parque de Desenvolvimento Tecnológico do Cea PADETEC
5
À minha filha Ana Beatriz de Oliveira
Nogueira Lima, minha razão de viver,
pelos sorrisos e pelos abraços. À minha
esposa Neila de Oliveira Nogueira Lima
por ter suportado a ausência devida à
forte carga de trabalho e ter cuidado
bem da família nesses momentos.
Aos meus pais e irmãos pela
contribuição na formação do meu
caráter.
Aos meus amigos e professores pelo
companheirismo.
6
AGRADECIMENTOS
Agradeço primeiramente a Deus. A meus pais, meus irmãos e meus
familiares pelo apoio durante esse período e pela formação do meu caráter.
Agradeço ao Prof. Dr. Rui Carlos Barros da Silva, pela orientação, esforço,
e ensinamentos.
Agradeço ao Prof. Dr. Marcos Antônio Araújo Silva, pelo muito que me
ensinou, pelo grande apoio na bancada de laboratório e pelas delimitações feitas no
trabalho.
Agradeço ao Prof. Dr. Francisco Sales Ávila Cavalcante pela orientação,
apoio, visão estratégica e conselhos valiosos.
Agradeço ao Prof. Dr. Antônio Carlos Santana dos Santos, pela boa
vontade e o tempo dispensado para ajudas com a física da atmosfera. Ao Prof. Dr.
Paulo Cesar Marques de Carvalho pela força nos momentos difíceis, a todos os
companheiros do mestrado, pelas conversas de bastidores, estudos em grupo e
apoio estratégico que muito me auxiliaram nas atividades.
Agradeço ao Dr. Júlio Cesar Góes Ferreira pela realização das medidas
de MEV e EDX, ao aluno de mestrado Erandir Brasil da Silva, pela ajuda com o
refinamento das medidas de raios-x.
Agradeço ao MCFA e a UECE pelo apoio institucional, ao Departamento
de Física da UFC por ter permitido a utilização de suas instalações em diversos
laboratórios: o laboratório de Filmes Finos, o laboratório de Materiais e
Optoeletroquímica, ao Laboratório de Microscopia Eletrônica de Varredura, o
laboratório de Raios X.
7
Agradeço ao Governo do Estado do Ceará, pela liberação no meu
trabalho e o apoio financeiro, sem o qual o seria possível a realização deste
trabalho.
Agradeço aos que me ajudaram de maneira direta nas pesquisas os
colegas de laboratório Ivan Cesar Neves dos Reis e Vicente de Oliveira Sousa Neto.
À técnica responsável pelos laboratórios, Sra. Joana Umbelina C. Coutinho. Agradeço
ao colega José Stenio Rocha pelos trabalhos desenvolvidos em conjunto durante o
curso.
Um agradecimento a todos os professores e colegas de mestrado que
estiveram presentes nessa jornada e também a toda e qualquer pessoa que por
ventura tenha contribuído de alguma forma com este trabalho.
8
A mais bela experiência que
podemos ter é a do mistério. É
a emoção fundamental
existente na origem da
verdadeira arte e ciência.
Aquele que não a conhece e
não pode se maravilhar com
ela está praticamente morto e
seus olhos estão ofuscados.
Albert Einstein
9
RESUMO
A técnica utilizada para a deposição de filmes finos sobre um substrato metálico é
eletrodeposição catódica, que apresenta as vantagens de ser uma técnica simples com
baixa temperatura de operação, fácil controle e boa eficiência. Além dessas vantagens
possibilita a deposição de filmes semicondutores do tipo p ou do tipo n, variando-se apenas
o potencial de deposição. Neste trabalho, tem-se a investigação do processo de
eletrodeposição de CdTe sobre substrato de titânio. Para este efeito, foi conduzida a técnica
de voltametria cíclica, a fim de estabelecer os valores de potencial de deposição (-100, -150,
-165, 180 e -200 mV). O pH da solução foi fixado em 1,8. A temperatura de trabalho foi de
80
o
C. Os filmes de CdTe eletrodepositados foram caracterizados através das técnicas de
caracterização de superfície, sejam elas a técnica de microscopia eletrônica de varredura
(MEV), de espectroscopia de análise da energia dispersiva por raios-X (EDX) e de difração
de raios-X (DR-X). Foi verificado que os filmes depositados nos diferentes potenciais
apresentam aspecto morfológico semelhante, em forma de glóbulos. Foi constatado que, em
valores de potencial de deposição menores que -200 mV ocorre a deposição de estrutura
dendrítica. Todavia, este fato não ocorre para valores de potencial igual a -150, -165 e -180
mV. A análise por EDX revelou que a razão estequiométrica atômica Cd/Te é de 1:1. Foi
verificado que o filme de CdTe apresenta a fase CdTe, tem-se os picos de difração
associados aos planos (111) e (311) de maiores intensidades relativas, indicando certa
orientação preferencial de crescimento do eletrodepósito. Concluiu-se que na
eletrodeposição de CdTe, a forte influência do potencial, caracterizando a formação de
filme fino em -180 mV. E, por outro lado, foi constatado que os eletrodepósitos crescidos nos
diferentes valores de potencial não apresentam orientação de crescimento preferencial.
Palavras-chave: energia solar, CdTe, eletrodeposição.
10
ABSTRACT
The technique used to deposit thin films on a substrate metal is cathodic electrodeposition,
which has the advantages of being a simple technique with low operating temperature, easy
control and good efficiency. Besides these advantages enables the deposition of
semiconductor films p-type or n-type, varying only the deposition potential. In this work, the
process of electrodeposition of CdTe on titanium substrate was investigated. For this
purpose, cyclic voltammetry was carried out in order to establish the deposition potential
values (-100, -150, -165, 180 and -200 mV). The solution pH was maintained at 1.8. The
working temperature was 80
o
C. The CdTe films were characterized by surface
characterization techniques: scanning electron microscopy (SEM), spectroscopic analysis of
energy dispersive X-ray (EDX) and X-rays diffraction (XRD). The films deposited at different
potentials have similar morphological aspect, in the globular shape. Deposition of dendritic
structure occurred at deposition potential values lower than -200 mV, but this fact does not
happen to -150, -165 and 180mV.. EDX analyses revealed that the atomic ratio Cd/Te is 1:1.
It is noted that CdTe film presents the CdTe phase. The diffraction peaks related to (111) and
(311) plans indicate the preferential orientation of electrodeposited CdTe growth. It is
concluded that the CdTe electrodeposition is strongly influenced by the deposition potential.
CdTe thin film formation is promoted at -180 mV. On the other hand, the electrodeposits
grown in different potential values have no preferential orientation growth.
Key-Words: solar energy, CdTe, electrodeposition
11
LISTA DE SIGLAS
Massa de Ar
Sulfeto de Cádmio
Telureto de Cádmio
Disseleneto de Cobre e Índio
Arseneto de Gálio
Cobre-Índio-Gálio-Selênio
Arseneto de Gálio e Alumínio
Joint Committee on Powder Diffraction Standards
National Renewable Energy Laboratory
Centro de Referencia para Energia Solar e Eólica Sergio de
Salvo Brito
Transparant Conductive Oxide
Indium Gallium Oxide
Conductive Transparent Oxide
Zinc Tin Oxide
Zinc Oxide
Eletrodo de Trabalho
Contra Eletrodo
Helmholtz Plane
Capacitância de Helmholtz
Capacitância de Gouy-Chapman
Inner Helmholtz Plane
Outer Helmholtz Plane
Satured Calomelan Electrode
Normal Hydrogen Electrode
Sulfeto de Cádmio
Dióxido de Telúrio
12
LISTA DE SIMBOLOS
Energia de um fóton
Constante de Planck
Velocidade da luz
Comprimento de um fóton
Temperatura em Kelvin
Energia de Fermi
Constante de Boltzmann
Número de elétrons num cristal
Número de estados
Constante de Planck dividida por 2π
Freqüência de um elétron
Energia de banda proibida
Energia mínima para a banda de condução
Energia máxima para a banda de valência
Nível de energia das impurezas doadoras
Nível de energia das impurezas aceitadoras
Energia de Fermi para um semicondutor intrínseco
Potencial de contato entre semicondutores p e n
Energia mínima para a banda de condução para um semicondutor
tipo p
Energia máxima para a banda de valência para um semicondutor
tipo p
Energia mínima para a banda de condução para um semicondutor
tipo n
Energia máxima para a banda de valência para um semicondutor
tipo n
Valor crítico de tensão para um diodo
Tensão aplicada num diodo
Corrente que atravessa um diodo sob uma tensão
13
Tensão de circuito aberto
Corrente de curto circuito
Fator de forma
Densidade de corrente
Rendimento de uma célula solar
14
LISTA DE FIGURAS
Figura 1 - Distribuição percentual dos novos dispositivos fotovoltáicos vendidos no
ano de 2008. ........................................................................................................................... 30
Figura 2 - Espectro da radiação solar no topo da atmosfera em vermelho, ao nível do
mar em amarelo e de um corpo negro ideal a 5.900 K. .................................................. 33
Figura 3 - Trajetória dos raios de Sol na atmosfera e definição do coeficiente de
“massa de ar” (AM). ............................................................................................................... 33
Figura 4 - Radiação global incidente no plano horizontal, para a Alemanha à
esquerda e para o Brasil à direita. ...................................................................................... 34
Figura 5 - Distribuição anual de radiação solar em diferentes localidades do globo. 35
Figura 6 - (a) Estrutura de banda eletrônica encontrada em metais como o cobre. (b)
Estrutura de banda eletrônica encontrada em metais como o magnésio. (c) Estrutura
característica dos materiais isolantes. (d) Estrutura característica dos materiais
semicondutores. ..................................................................................................................... 40
Figura 7 - Estruturas de bandas de energia para o Si a esquerda com transição de
banda proibida indireta e o GaAs a direita com transição direta. .................................. 41
Figura 8 - Silício puro em (a), dopado com uma impureza doadora pentavalente em
(b) e com uma aceitadora trivalente em (c). ...................................................................... 42
Figura 9 - Semicondutores p e n separados com os respectivos níveis de Fermi. .... 43
Figura 10 - Carga, campo elétrico, potencial e níveis de energia na zona de depleção
da junção p-n. ......................................................................................................................... 44
Figura 11 - Esquema básico de uma célula eletrolítica ................................................... 46
Figura 12 - (a) Modelo de Helmholtz para a dupla camada, sendo a densidade
de carga em excesso no metal e , a densidade de carga em excesso na solução.
(b) Variação do potencial elétrico na solução em função da distância ao eletrodo. ... 52
Figura 13 - Ilustração das várias fases de crescimento de um filme: nucleação inicial
e secundária, formação e crescimento de ilhas, coalescência e formação de
depósito. .................................................................................................................................. 55
Figura 14 - Diferentes tipos possíveis de eletrodepósitos relacionados com a
densidade de corrente e à intensidade de inibição. ......................................................... 57
Figura 15 - Diagrama de Winand. Regiões de estabilidade das diversas estruturas de
eletrodepósitos. ...................................................................................................................... 58
15
Figura 18 - Estrutura de uma célula solar de CdS/CdTe. ............................................... 65
Figura 19 - Fração de Fótons úteis que são convertidos em energia elétrica. ............ 68
Figura 20 - Estrutura da célula solar CdS/CdTe que detém o recorde de eficiência. 69
Figura 16 - Estrutura cúbica de face centrada tipo esfalerita (blenda de zinco) do
CdTe ........................................................................................................................................ 71
Figura 17 - Célula unitária hexagonal compacta tipo wurtzita do CdTe ....................... 71
Figura 21 - Célula eletrolítica completa disposta sobre a chapa aquecedora com
agitação magnética. .............................................................................................................. 79
Figura 22 Conjunto de eletrodos utilizados .................................................................... 81
Figura 23 - Eletrodo de trabalho isolado, a esquerda tem-se a parte de trás do
eletrodo e a direita a parte frontal do eletrodo onde será concretizada a junção
substrato/semicondutor. ....................................................................................................... 82
Figura 24 - Voltametria cíclica para o banho ácido usado na deposição dos filmes de
CdTe,temperatura do banho 80º C ..................................................................................... 83
Figura 25 Perfil potenciodinâmico da deposição-dissolução de CdTe sobre
substrato de Ti. Sobreposição dos voltamogramas típicos. ........................................... 84
Figura 26 - Voltamograma cíclico de deposição-dissolução de Cd em eletrólito com
fonte de ions cádmio. ............................................................................................................ 88
Figura 27 - Voltamograma cíclico para um eletrólito contendo apenas TeO
2
, que é a
fonte de telúrio ........................................................................................................................ 89
Figura 28 Voltamogramas típicos de deposição-dissolução de cádmio, de telureto
de cádmio e telúrio sobre substrato de Ti. ......................................................................... 89
Figura 29 - Perfil potenciodinâmico da deposição-dissolução de CdTe sobre
substrato de Ti. ....................................................................................................................... 90
Figura 30 - Curva de deposição potenciostática para eletrodepósito de CdTe sobre
substrato de Ti. ....................................................................................................................... 91
Figura 31 - Curva de deposição potenciostática para eletrodepósito com aplicação
de potencial constante em -150 mV. .................................................................................. 93
Figura 32 - Curva de deposição potenciostática para eletrodepósito com aplicação
dos potenciais constantes em -150, -165 e -180 mV. ..................................................... 93
Figura 33 - Micrografia do filme fino de CdTe depositado em -150 mV, aumento de
1.000X. .................................................................................................................................... 95
Figura 34 Micrografia do filme fino de CdTe depositado a -150 mV. Aumento:
15.000X. .................................................................................................................................. 95
16
Figura 35 - Micrografia do filme fino de CdTe depositado a -150 mV. Aumento:
30.000X. .................................................................................................................................. 96
Figura 36 - Micrografia do filme fino de CdTe depositado a -165 mV. Aumento:
1.000X. .................................................................................................................................... 97
Figura 37 - Micrografia do filme fino de CdTe depositado a -165 mV. Aumento:
15.000X. .................................................................................................................................. 97
Figura 38 - Micrografia do filme fino de CdTe depositado a -165 mV. Aumento:
30.000X. .................................................................................................................................. 98
Figura 39 - Micrografia do filme fino de CdTe depositado a -180 mV. Aumento:
1.000X. .................................................................................................................................... 98
Figura 40 - Micrografia do filme fino de CdTe depositado a -180 mV. Aumento:
15.000X. .................................................................................................................................. 99
Figura 41 - Micrografia do filme fino de CdTe depositado a -180 mV. Aumento:
30.000X. .................................................................................................................................. 99
Figura 42 Espectro do filme fino de CdTe eletrodepositado a -150 mV. ................ 101
Figura 43 - Espectro do filme fino de CdTe eletrodepositado a -165 mV. ................. 101
Figura 44 - Espectro do filme fino de CdTe eletrodepositado a -180 mV. ................. 102
Figura 45 - Difratograma do eletrodepósito de CdTe obtido a -150 mV. .................... 104
Figura 46 - Difratograma do eletrodepósito de CdTe obtido a -165mV. ..................... 104
Figura 47 - Difratograma do eletrodepósito de CdTe obtido a -180mV. ..................... 105
17
LISTA DE TABELAS
Tabela 1 - Propriedades de alguns dos mais comuns óxidos transparentes
condutivos (TCO) e bi-camadas. ......................................................................................... 66
Tabela 2 - Resumo das principais características das cnicas de deposição
utilizadas para os filmes fino de CdTe. .............................................................................. 75
Tabela 3 - Tipos de semicondutividade de filmes de CdTe obtidos em condições de
deposição variáveis. .............................................................................................................. 76
Tabela 4 Análise composicional de filmes finos de CdTe eletrodepositados em
diferentes potenciais ........................................................................................................... 102
18
SUMÁRIO
RESUMO............................................................................................................ 1
ABSTRACT ........................................................................................................ 1
LISTA DE SIGLAS ............................................................................................. 1
LISTA DE SIMBOLOS ....................................................................................... 1
LISTA DE FIGURAS ........................................................................................ 14
LISTA DE TABELAS ....................................................................................... 17
SUMÁRIO ........................................................................................................ 18
1 INTRODUÇÃO .............................................................................................. 21
1.1 OBJETIVO ................................................................................................. 26
1.2 ORGANIZAÇÃO DOS CAPÍTULOS .......................................................... 27
2 FUNDAMENTAÇÃO TEÓRICA .................................................................... 28
2.1 HISTÓRICO ............................................................................................... 28
2.2 CONCEITOS FÍSICOS BÁSICOS DE UMA CÉLULA SOLAR ................... 31
2.2.1 INTRODUÇÃO ........................................................................................ 31
2.2.2 RADIAÇÃO SOLAR................................................................................. 31
2.2.4 EFEITO FOTOVOLTÁICO ...................................................................... 35
2.2.5 SEMICONDUTORES .............................................................................. 37
2.2.6 JUNÇÃO pn ............................................................................................. 42
2.3 ELETRODEPOSIÇÃO ................................................................................ 44
2.3.1 INTRODUÇÃO ........................................................................................ 44
2.3.2 PRINCÍPIOS BÁSICOS DA ELETROQUÍMICA ...................................... 45
2.3.3 REAÇÕES DE OXIREDUÇÃO (REDOX) .............................................. 46
2.3.4 LEIS DE FARADAY ................................................................................. 48
19
2.3.5 MODELOS DE DUPLA CAMADA ........................................................... 50
2.3.6 NUCLEAÇÃO E CRESCIMENTO ........................................................... 54
2.3.7 DIAGRAMA DE WINAND ........................................................................ 56
2.4 TÉCNICAS EXPERIMENTAIS ................................................................... 58
2.4.1 VOLTAMETRIA CÍCLICA ........................................................................ 58
2.4.2 MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA .................................. 60
2.4.3 DIFRAÇÃO DE RAIOS X ........................................................................ 60
2.4.4 ESPECTROSCOPIA DE ANÁLISE DA ENERGIA DISPERSIVA POR
RAIOS-X (EDX) ................................................................................................ 62
3 REVISÃO DE LITERATURA ........................................................................ 63
3.1 ESTADO DA ARTE PARA CÉLULAS SOLARES DE CdS/CdTe. .............. 63
3.1.1 INTRODUÇÃO ........................................................................................ 63
3.1.2 CONFIGURAÇÃO BÁSICA ..................................................................... 63
3.1.3 DETALHAMENTO DA ESTRUTURA ...................................................... 65
3.1.4 CONFIGURAÇÃO MAIS EFICIENTE ...................................................... 69
3.2 O MATERIAL CdTe .................................................................................... 70
3.3 CONTATO METÁLICO TRASEIRO ........................................................... 71
3.4 MORFOLOGIA E ESTRUTURA DE ELETRODEPÓSITOS ....................... 72
3.5 DEPOSIÇÃO DO CdTe .............................................................................. 74
4 MATERIAIS E MÉTODOS ............................................................................ 78
4.1 CÉLULA ELETROLÍTICA ........................................................................... 78
4.2 PREPARAÇÃO DO ELETRÓLITO ............................................................. 79
4.3 PREPARAÇÃO DOS ELETRODOS ........................................................... 80
4.4 ENSAIOS VOLTAMÉTRICOS .................................................................... 82
4.5 DEPOSIÇÃO DO CdTe .............................................................................. 84
4.6 ANÁLISE POR DIFRAÇÃO DE RAIOS-X .................................................. 85
20
4.7 CARACTERIZAÇÃO MICROSCÓPICA DO ELETRODEPÓSITO POR..... 86
MEV E EDX ...................................................................................................... 86
5 RESULTADOS E DISCUSSÃO .................................................................... 87
5.1 VOLTAMETRIA DE DEPOSIÇÃO-DISSOLUÇÃO DE CdTe SOBRE Ti .... 87
5.2 DEPOSIÇÃO POTENCIOSTÁTICA DE FILMES DE CdTe ........................ 90
5.3 CARACTERIZAÇÃO DE SUPERFÍCIE DO ELETRODEPÓSITOS DE CdTe
94
5.4 ANÁLISE QUÍMICA DO ELETRODEPÓSITO DE CdTe EM FUNÇÃO DO
POTENCIAL DE DEPOSIÇÃO ....................................................................... 100
5.5 INFLUÊNCIA DO POTENCIAL DE DEPOSIÇÃO NA ESTRUTURA DO
ELETRODEPÓSITO ...................................................................................... 103
6 CONCLUSÕES ........................................................................................... 105
7 SUGESTÕES PARA TRABALHOS FUTUROS ......................................... 106
REFERÊNCIAS BIBLIOGRÁFICAS .............................................................. 107
21
1 INTRODUÇÃO
A energia necessária para manutenção da vida dos seres humanos
é obtida de fontes tais como: combustíveis fósseis, rios, biomassa, ventos,
marés, dentre outras. Quase toda essa energia provém direta ou indiretamente
do Sol. A maior parte, proveniente da energia solar acumulada nas ligações
químicas das reservas fósseis. Esse fato torna o fornecimento energético
mundial altamente dependente da combustão das reservas fósseis que, por
sua vez, não são renováveis.
Essa dependência faz com que, o fornecimento da energia
necessária para a manutenção do modo de vida dos seres humanos, se torne
bastante fragilizado. Um exemplo dessa fragilidade pôde ser claramente
observado por volta de 1973 quando houve um choque nos preços do petróleo
e consequentemente um grande racionamento de energia. Esse período ficou
marcado na história como a crise do petróleo (KINIGUER, 2003).
Essa crise mostrou o quão grande era a dependência mundial de
uma única fonte de energia primária, e fez com que o mundo voltasse os olhos
para outras formas de obtenção da energia. Dessa maneira, os investimentos
governamentais e privados, principalmente em formas renováveis e limpas de
energia, cresceram fortemente. Juntamente com o crescimento desses
investimentos, um grande número de pesquisas impulsionou o conhecimento
sobre essas formas de energia, fazendo com que as aplicações em energia
solar, eólica, biomassa, dentre outras, fossem desenvolvidas rapidamente.
Entretanto, com a estabilização no preço do petróleo, as pesquisas
em energia renovável estagnaram, e a queima de combustíveis fósseis voltou a
suprir a maior parte da demanda mundial por energia. A partir daí e, durante
aproximadamente duas décadas, os combustíveis fósseis foram suficientes
para manter o fornecimento de energia mundial. Como conseqüência disso, os
22
efeitos da emissão de gases de efeito estufa, gerados pela utilização
desenfreada de combustíveis fósseis, vieram a dar novo fôlego à indústria das
energias renováveis.
A realização de diversos eventos técnico-cientifico-sócioeconômicos
internacionais, com o objetivo de analisar a emissão de tais gases, culminou
com a proposta de um tratado internacional em 1997, na cidade de Kyoto, no
Japão. Tal tratado ficou conhecido como Protocolo de Kyoto, que tinha como
proposta, a redução em pelo menos 5,2 % nas emissões de gases de efeito
estufa pelos países desenvolvidos em relação aos níveis de 1990, no período
entre 2008 e 2012. O protocolo passou a vigorar em 2005 (MARQUES et al.,
2006).
Como a grande maioria das emissões dos gases de efeito estufa, é
proveniente da queima de combustíveis fósseis, a utilização de fontes
renováveis de energia é algo imperativo. Além disso, com os padrões atuais de
consumo de energia, as reservas fósseis que foram acumuladas durante
milhões de anos podem se tornar fumaça em apenas uma centena de anos
(WÜRFEL, 2005).
A energia solar fotovoltáica, que nada mais é que uma forma de
converter a energia solar, diretamente em energia elétrica, é uma alternativa
para a queima dos combustíveis fósseis. Especialmente em regiões onde a
incidência de radiação solar é bastante intensa. A região nordeste do Brasil é
um bom exemplo.
O Sol envia para a Terra uma quantidade de energia em torno de 1,5
x 10
18
kWh, esse valor é equivalente a cerca de 10.000 vezes o consumo
mundial de energia bruta (DUTRA, 2009). Considerando-se a enorme
quantidade de radiação solar que atinge o planeta, a energia solar fotovoltáica
tem potencial para ser uma das soluções definitivas para o suprimento mundial
de energia, de maneira renovável e limpa.
23
O Brasil, mais especificamente o nordeste brasileiro, apresenta um
dos maiores potenciais solares do mundo (KININGUER, 2003). Entretanto, a
potência instalada no país é muito pequena se comparada a outros países com
recursos naturais muito inferiores.
As maiores potências fotovoltáicas instaladas estão localizadas, de
maneira paradoxal, em países com latitudes médias, tendo destaque
Alemanha, Espanha e Portugal na Europa, os Estados Unidos e o Japão
(DUTRA, 2009). O Brasil, devido à sua localização geográfica, possui um
potencial fotovoltáico consideravelmente maior que a maioria desses países.
Devido às suas dimensões continentais o país possui regiões com potenciais
maiores ainda. Segundo o Atlas Solarimétrico do Brasil, possui destaque
positivo a região nordeste, em especial, o Estado do Ceará.
A utilização da energia solar fotovoltáica, comercialmente, tem como
seu principal adversário o alto custo de produção dos seus dispositivos. Os
dispositivos fotovoltáicos são dispositivos eletrônicos, e como tais, possuem um
valor agregado muito grande, o que por si só, torna seus preços naturalmente
elevados. A eletrônica é um dos maiores impulsionadores do desenvolvimento
moderno. O silício é a principal matéria prima para vários dispositivos
eletrônicos, como transistores, circuitos integrados, microprocessadores, dentre
outros (REZENDE, 2004).
Desta maneira, a indústria fotovoltáica, naturalmente se apropriou
dos conhecimentos até então desenvolvidos para a eletrônica, e passou a
construir os seus dispositivos também em silício (REZENDE, 2004). Hoje, mais
de 85 % dos dispositivos fotovoltáicos utilizam como maria prima o silício,
que é aplicado nas formas monocristalino, policristalino e amorfo (MINTS,
2009).
Levando-se em conta que a energia solar fotovoltáica concorre no
mercado com outras fontes, que produzem uma energia muito mais barato,
pode-se assinalar que, devido ao seu alto custo, o silício, pelo menos nas
configurações atuais não é o material ideal para a construção de dispositivos
24
fotovoltáicos. Esse é um dos principais fatores que tem impulsionado as
pesquisas em novos materiais para a conversão fotovoltáica, destacando-se
dispositivos semicondutores em filmes finos, como no caso do telureto de
cádmio.
Com o objetivo concreto de minimizar os custos de produção dessa
energia, um grande número de pesquisas, em diversos países, estão em
andamento. A segunda geração das células solares (filmes finos), está à
disposição no mercado. Os dispositivos de filmes finos apresentam as
vantagens de serem produzidas por técnicas mais simples, com a utilização de
camadas semicondutoras a cem vezes menos espessas que as de silício
policristalino, que por sua vez, são a matéria-prima da maioria dos dispositivos
à disposição no mercado, como conseqüência disto, os dispositivos de filmes
finos apresentam um menor custo (POORTMANS e ARKHIPOV, 2006). O
dispositivo mais barato à disposição no mercado é fabricado com filmes finos
de CdTe. O fabricante First Solar anunciou em 2009 um dispositivo com um
custo de produção de 1 $ / Wp (HEGEDUS, 2009).
Em comparação com as células de silício, as células de filmes finos
ainda apresentam algumas limitações. Existem poucas relações quantitativas
entre os processos críticos (crescimento e propriedades dos filmes) e o
desempenho dos dispositivos. Há uma dificuldade em se controlar as
propriedades dos materiais utilizados. Os equipamentos utilizados são
altamente específicos, muitas vezes tendo que ser confeccionados para
utilização num único processo de deposição dos filmes. A translação das
características obtidas em laboratório para os dispositivos fabricados em larga
escala é bem mais complicada do que o esperado. A estabilidade às condições
ambientais não é tão boa quanto à dos dispositivos de silício (HEGEDUS,
2009).
Para dispositivos de filmes finos há uma maior diferença entre os
melhores resultados obtidos em laboratório e os resultados típicos para os
módulos comerciais. Para esses dispositivos, os módulos comerciais
apresentam uma eficiência de conversão cerca de 40 a 50% menor que a dos
25
dispositivos mais eficientes produzidos em laboratório; nos dispositivos de
silício os módulos comerciais perdem não mais que 25 a 35% em sua eficiência
se comparada com os módulos produzidos em escala de laboratório
(HEGEDUS, 2009).
Os dispositivos de CdTe, especificamente, apresenta uma diferença
da ordem de 31%, o que pode ser considerado um bom desempenho, se
comparado com o silício e os filmes finos em geral. O recorde de eficiência
para células de CdTe, em escala de laboratório, é de 16,5 % (ACEVEDO,
2006). os módulos vendidos comercialmente apresentam uma eficiência
típica de 11,5 % (HEGEDUS, 2009).
Apesar das limitações, ainda apresentadas pelos filmes finos, em
2008, cerca de 14% dos novos painéis vendidos no mundo eram fabricados em
filmes finos. As previsões apontam para um aumento considerável na
participação desses materiais num curto espaço de tempo, sendo estimada
uma participação de 25% no mercado, até 2013 (MINTS, 2009). O CdTe é o
principal representante dos filmes finos, 14% dos novos dispositivos são
fabricados em filmes finos, destes 8% são de CdTe.
O CdTe é um material que possui uma energia de banda proibida
em torno de 1,45 eV, que é ideal para aplicação em dispositivos fotovoltáicos.
Isto associado à possibilidade de crescimento tanto de CdTe tipo n como do
tipo p, torna esse material um dos mais adequados para conversão fotovoltáica
e deste modo é um dos mais pesquisados atualmente.
A eletrodeposição catódica é uma técnica de preparação de filmes
bastante interessante. Ela é uma das técnicas mais baratas e usadas para o
crescimento de filmes de grandes áreas, tendo por isso, considerável potencial
para uso em escala industrial.
Neste trabalho foram crescidos filmes de CdTe através da técnica de
eletrodeposição catódica. Uma descrição mais detalhada dos filmes de CdTe
26
bem como da técnica de eletrodeposição será apresentada nos capítulos dois e
três.
A terceira geração das células solares (células solares orgânicas),
constituídas de semicondutores orgânicos com um custo ainda menor quando
comparadas ao de filmes finos, estão sendo bastante pesquisadas em escalas
de laboratório. Apresentam a grande vantagem de serem facilmente produzidas
sobre substratos maleáveis. Entretanto ainda apresentam desvantagens tais
como baixa eficiência de conversão e baixa vida útil (LIMA, 2008).
Mesmo com a limitação dos custos, a utilização da energia solar
fotovoltáica tem crescido com taxas anuais maiores que 30% desde 1998. O
ano 2008 apresentou um crescimento superior a 80%. As previsões são de
que, em poucos anos, a geração de energia elétrica por meio dessa fonte,
detenha uma parte considerável do mercado mundial (MINTS, 2009).
1.1 OBJETIVO
O objetivo geral desse trabalho é investigar a eletrodeposição de
filmes finos de CdTe sobre substrato de titânio a diferentes potenciais de
deposição.
Como objetivos específicos são identificados:
Identificar os potenciais ótimos de deposição dos filmes de CdTe,
através da realização de experimentos de voltametria cíclica.
Depositar potenciostaticamente filmes finos de CdTe.
Verificar a morfologia, a composição e a estrutura de filmes
eletrodepositados em diferentes potenciais.
27
1.2 ORGANIZAÇÃO DOS CAPÍTULOS
Os capítulos subseqüentes são organizados da seguinte maneira.
No capítulo dois é feita uma e fundamentação teórica, onde são
apresentados os conceitos e conhecimentos essenciais para o
desenvolvimento do trabalho. Um breve histórico da energia solar fotovoltáica é
descrito desde seus primórdios até o presente. Em seguida, é feita uma
exposição dos conceitos físicos básicos que norteiam o funcionamento de uma
célula solar. Na continuação, são expostos os conceitos básicos de
eletroquímica necessários para o entendimento do trabalho. Posteriormente, é
feita uma breve descrição teórica das técnicas experimentais utilizadas neste
trabalho.
No capítulo três é feita uma revisão da literatura para a
eletrodeposição de filmes finos de CdTe e para células solares que utilizam o
CdTe em uma de suas camadas, sendo apresentado o estado da arte para a
célula CdS/CdTe, que é a apresentação mais aplicada mundialmente.
No capítulo quatro são detalhados os materiais e métodos utilizados
na preparação, deposição e caracterização dos filmes finos de CdTe.
No capítulo cinco os resultados finais do trabalho são apresentados,
analisados e discutidos.
No capítulo seis são feitas conclusões.
Por fim no capítulo sete são dadas sugestões para trabalhos futuros.
28
2 FUNDAMENTAÇÃO TEÓRICA
2.1 HISTÓRICO
Neste capítulo é apresentado um breve histórico da evolução da
energia fotovoltáica, desde o descobrimento do efeito fotovoltáico por
Becquerel até os dias presentes.
Em 1839 o físico francês A. E. Becquerel observou o efeito
fotovoltáico, que é basicamente a conversão da energia dos tons que
compõe a luz do Sol em energia elétrica (SPANGGAARD, KREBS, 2004).
Relativamente pouco tempo depois em 1873, Smith descobriu a
fotocondutividade do Selênio, logo em seguida, Charless Fritts em 1877,
construiu a primeira célula fotovoltáica de semicondutor com uma eficiência
menor que 1%. Em 1914, o efeito fotovoltáico foi relacionado pela primeira vez
com a existência de uma barreira de potencial elétrico (ABREU, 2006).
Até os anos 40 pouca coisa mudou. Mas a fabricação da primeira
célula de silício por Russel Ohl em 1941, bem como o desenvolvimento do
método Czochralski para a produção de silício cristalino de alta pureza,
possibilitou um incremento substancial na eficiência das células solares
(ABREU, 2006).
Entre 1954 e 1958 foram produzidas células com eficiências entre
6% e 14%. Em 1958 o satélite americano Vanguard utilizou módulos
fotovoltáicos para suprir a energia de seu sistema de comunicação (ABREU,
2006).
Avanços na tecnologia de semicondutores, principalmente o
desenvolvimento dos transistores, alavancaram o desenvolvimento das células
29
fotovoltáicas; devido ao fato de ambos utilizarem o mesmo tipo de material e
funcionarem segundo princípios físicos semelhantes.
A evolução da eficiência das células solares é contínua e, na década
de 80, se conseguiam eficiências superiores a 20 %. Loferski calculou que o
máximo de eficiência teórica para uma célula de homojunção seria 24 %. Com
o objetivo de superar esse limite teórico, foram desenvolvidas células de
múltiplas junções que hoje apresentam eficiências próximas dos 40 % para
aplicações espaciais (ABREU, 2006).
Apesar do forte crescimento da tecnologia o seu custo ainda
inviabiliza sua utilização em larga escala. Até pouco tempo atrás, cerca de 98%
das lulas solares disponíveis no mercado eram construídas com o silício
sendo a principal matéria-prima (DITTMER et. al., 2000).
A utilização do silício é amplamente compreendida, e as células
solares para aplicações terrestres usam o silício, que por sua vez, pode ser
aplicado com três morfologias diferentes, silício monocristalino, silício
policristalino e silício amorfo.
O primeiro tipo é o que oferece melhor eficiência, entretanto é o que
apresenta os maiores custos de produção. o segundo tipo apresenta uma
eficiência um pouco menor, mas um custo inferior. A maior parte do mercado
fotovoltáico é abastecida por dispositivos que utilizam o silício nessa
configuração. O terceiro tipo apresenta o menor custo, pode ser fabricada em
filmes finos, mas apresenta limitações quanto à eficiência (FRAIDENRAICH E
LYRA, 1995).
A tecnologia das células solares de silício está dominada e se
conseguem boas eficiência e durabilidade, entretanto seu processo de
fabricação é bastante elaborado, exige alto grau de pureza do material,
ambientes completamente limpos, altas temperaturas e, consequentemente,
um elevado consumo de energia (MARKVART E CASTAÑER, 2005).
30
Pensando em tornar a tecnologia fotovoltáica mais competitiva, a
segunda geração das células solares (Filmes Finos) está em franca expansão.
Dentre os filmes finos com aplicação fotovoltáica se destacam, o próprio silício
amorfo, o telureto de dmio (CdTe), o disseleneto de cobre e índio (CIS), e o
arseneto de gálio (GaAs), dentre outros (POORTMANS E ARKHIPOV, 2006).
Estes dispositivos se encontram disponíveis no mercado e em franca
expansão, já sendo responsável por cerca de 14% da demanda (MINTS, 2009).
Na Figura 1 tem-se uma ilustração da distribuição percentual dos
novos dispositivos fotovoltáicos vendidos em 2008. Destes o silício amorfo, o
CdTe, e o CIGS/CIS são filmes finos.
Figura 1 - Distribuição percentual dos novos dispositivos fotovoltáicos vendidos no ano de
2008.
Fonte: Adaptado de Mints (2009).
O grande avanço das pesquisas em materiais semicondutores, fez
com que surgissem materiais semicondutores de origem orgânica. Esses
materiais podem ser sintetizados de diversas maneiras, oligômeros, polímeros,
nanotubos de carbono, dentre outros. Nos dispositivos fotovoltáicos, os
semicondutores orgânicos são aplicados em heterojunções dispersas,
compostas principalmente por fulereno C
60
e seus derivativos (LIMA, 2008).
Esses compostos apresentam grandes vantagens, como alta
plasticidade, grande facilidade de síntese, baixos custos de produção. A
31
terceira geração das células solares (Orgânicas) pretende se aproveitar dessas
vantagens e produzir dispositivos ainda mais baratos (LIMA, 2008).
A tendência é de que, com a consolidação das células fotovoltáicas
de segunda e de terceira gerações, o mercado fotovoltáico seja impulsionado,
fazendo com que a energia solar passe a contribuir cada vez mais com a
geração de energia elétrica.
2.2 CONCEITOS FÍSICOS BÁSICOS DE UMA CÉLULA SOLAR
2.2.1 INTRODUÇÃO
Uma célula solar é um dispositivo eletrônico que tem como função,
converter a energia solar em elétrica. A conversão fotovoltáica numa célula
solar ocorre em duas etapas essenciais: inicialmente, os fótons de luz são
absorvidos gerando pares elétrons-buracos; em seguida, elétrons e buracos
fotogerados são separados através da estrutura do dispositivo, com os elétrons
se dirigindo para o terminal negativo e os buracos para o terminal positivo
(MARKVART E CASTAÑER, 2005).
Essa geração de pares elétrons-buracos ocorre quando os tons
que compõe a luz incidem sobre um tipo especial de material, os
semicondutores, que possuem características intermediárias entre os
condutores e os isolantes. Para entender os processos físicos que regem o
funcionamento de uma lula solar é fundamental entender como são os
materiais semicondutores. Esses materiais serão descritos mais
detalhadamente em seções posteriores.
2.2.2 RADIAÇÃO SOLAR
32
O Sol é uma estrela composta basicamente por hidrogênio e hélio. A
todo instante, milhões de núcleos de átomos de hidrogênio se fundem
formando núcleos de átomos de hélio, a cada fusão uma fração da massa dos
núcleos atômicos é convertida em energia. Em uma aproximação grosseira
esse é o mecanismo da reação de fusão nuclear que gera a energia que vem
do Sol.
Na sua parte mais externa, conhecida como fotosfera, a temperatura
possui valores em torno de 5.900 K e o Sol pode ter sua emissão aproximada a
de um corpo negro com essa temperatura. A distribuição da radiação
eletromagnética emitida pelo Sol como função do comprimento de onda
incidente no topo da atmosfera terrestre é chamado de espectro solar
(MENEZES NETO 2007). Na Figura 2 está representada a irradiação solar no
topo da atmosfera, ao nível do mar e o espectro de um corpo negro a 5.800 K.
Nota-se que a aproximação do Sol a um corpo negro com essa temperatura é
bem razoável.
Ao fluxo de energia solar que cruza uma unidade de área normal a
um raio solar na distância média entre o Sol e a Terra -se o nome de
constante solar. Segundo Kiniguer (2003), a constante solar vale 1367 W / m².
Da energia eletromagnética que deixa o Sol, aproximadamente
45,7 % ocorre em comprimentos de onda na região do infravermelho, 47,3 %
na região do visível e 7 % na região do ultravioleta (WÜRFEL, 2005).
A incidência total da radiação solar sobre um corpo localizado no
solo é a soma dos componentes: direto, difuso e refletido. Radiação direta é
aquela proveniente do Sol, sem sofrer nenhuma mudança de direção, além da
provocada pela refração atmosférica. Radiação difusa é aquela recebida por
um corpo, em virtude da direção dos raios solares terem sido modificados por
reflexão ou espalhamento na atmosfera (MENEZES NETO, 2007).
Um parâmetro importante é conhecido como massa de ar (AM), que é
definida a partir da equação (2.1):
33
Figura 2 - Espectro da radiação solar no topo da atmosfera em vermelho, ao nível do mar em
amarelo e de um corpo negro ideal a 5.900 K.
Fonte: Menezes Neto (2007).
(2.1)
onde é o ângulo entre a linha vertical que passa pelo observador e a linha
que vai do observador ao sol. A Figura 3 ilustra esse ângulo. Na situação em
que Sol está sobre na vertical, é chamado de ângulo de zênite.
Figura 3 - Trajetória dos raios de Sol na atmosfera e definição do coeficiente de “massa de ar”
(AM).
Terra
Limite da Atmosfera
Sol
Sol
Ângulo de
incidência
0
Massa de ar
Massa de ar
Zênite
Superfície da Terra
34
Fonte: Cresesb.
2.2.3 POTENCIAL DE RADIAÇÃO SOLAR
Medidas de radiação revelam o potencial que cada região tem para
a geração de energia fotovoltáica. Grande parte do Brasil fica numa região de
latitudes baixas, o que é um fator positivo, pois receberá uma maior quantidade
de radiação. Uma comparação entre os níveis de radiação entre o Brasil e
Alemanha foi feita por Salomone e Rüther (2007). Nessa comparação fica claro
o maior potencial do Brasil em relação à Alemanha. A Figura 4 mostra que na
pior configuração a radiação incidente sobre o Brasil é cerca de 1,4 vezes
maior que a radiação que chega até a Alemanha.
O Brasil tem dimensões continentais e uma análise da Figura 4,
mostra que as regiões brasileiras com maior potencial para geração
fotovoltáica são as regiões Nordeste e Centro-oeste. O Ceará apresenta um
excelente potencial. Na Figura 5 uma comparação entre três cidades;
Fortaleza no Brasil, Kassel na Alemanha e Pitsanulok na Tailândia. Nessa
figura pode-se ver que Fortaleza, com uma latitude de aproximada de 3,7º;
realmente tem um bom potencial.
Figura 4 - Radiação global incidente no plano horizontal, para a Alemanha à esquerda e para o
Brasil à direita.
Fonte: Salamoni e Rüther (2007).
35
Figura 5 - Distribuição anual de radiação solar em diferentes localidades do globo.
Fonte: Energiewandlung e Kininger (2003).
2.2.4 EFEITO FOTOVOLTÁICO
Para compreender como a luz do Sol é convertida em energia em
elétrica, é necessário entender como a radiação interage com a matéria. No
caso dos dispositivos fotovoltáicos, o que torna a conversão solar-elétrica
possível é o fato de a luz interagir com materiais semicondutores.
O efeito fotovoltáico foi descrito pela primeira vez em 1839 por
Becquerel. Na transição dos séculos XIX e XX, um fenômeno intrigou os físicos
da época, o efeito fotoelétrico. Certos materiais ao serem iluminados
apresentavam a capacidade de ejetar elétrons. A física clássica não é capaz de
dar explicação para esse fenômeno. Tal explicação coube a Einstein que, se
valendo das proposições de Planck em 1905, propôs uma explicação que
Fortaleza - Brasil
Kassel - Alemanha
Pitsanulok - Tailandia
Jan
Fev
Mar
Abr
Mai
Jun
Jul
Ago
Set
Jun
tt
Out
Nov
Dez
Media
0,0
1,0
2,0
3,0
4,0
5,0
6,0
7,0
8,0
,0
Meses
Radiação global média diária kWh / m²
36
considerava a luz como sendo formada por partículas, os quantas de luz.
Segundo essa explicação a luz é transportada em pequenos pacotes de
energia chamados fótons.
Cada ton é caracterizado por um comprimento de onda ( ou por
uma energia equivalente , essas duas grandezas são inversamente
proporcionais e a relação entre elas é dada pela equação;
(2.2).
Uma consequência direta dessa relação é que os tons mais
energéticos são aqueles que possuem menor comprimento de onda. O
comprimento de onda cresce no espectro visível, no sentido que vai do violeta
ao vermelho. Sendo assim os tons da luz azul são mais energéticos que os
da luz amarela, pois a luz azul possui um menor comprimento de onda. Desta
maneira são necessários menos fótons de luz azul que de luz amarela para
transportar a mesma quantidade de energia.
Os fótons interagem com os semicondutores e essa interação, gera
três efeitos físicos diretamente ligados e simultâneos. A absorção, a
transferência e a geração de energia elétrica.
Quando um fóton incide sobre um semicondutor, ele pode ser
refletido, refratado ou absorvido. A energia do fóton e as características físicas
do semicondutor é que vão determinar qual das três possibilidades
prevalecerá.
Para um fóton ser absorvido, sua energia precisa ser suficiente para
retirar um elétron da ligação covalente na qual fica preso. Nesse caso a energia
é transmitida para um elétron, que adquire energia suficiente para se liberar da
influencia de tal ligação.
No caso de uma célula solar, uma junção de camadas
semicondutoras. Uma com alta concentração de portadores de carga positiva
(camada p) e outra com uma concentração de cargas negativas (camada n).
37
Essa disposição faz surgir um campo elétrico intrínseco. Esse campo faz com
que, os elétrons que receberam a energia dos fótons, e os buracos vazios
deixados por eles, sejam acelerados em direções opostas.
A sucessão: absorção, transferência e geração de corrente elétrica é
o que chamamos de efeito fotovoltaico. Nas seções seguintes a interação da
radiação com a matéria será explicada com mais detalhes.
2.2.5 SEMICONDUTORES
Como foi elucidado na seção anterior, as células solares são
constituídas por materiais chamados semicondutores. Nesta seção será
apresentada de maneira sucinta uma explicação sobre esses materiais.
Em átomos isolados os elétrons apresentam níveis discretos de
energia que podem ser separados por grandes lacunas, na escala de energia.
Num sólido, os átomos estão separados por distâncias de apenas alguns
poucos Å, o que possibilita uma interação entre eles e os níveis energéticos
dos átomos passam a interferir com os dos átomos vizinhos.
De Würfel (2005) tem-se a afirmação de que nessa configuração, os
valores, inicialmente discretos energia, tornam-se agora uma faixa de energia
em que os valores energéticos são tão próximos que aparecem juntos para
formar um continuum. Estas regiões de energia permitida para os elétrons são
conhecidas como bandas.
A última banda que apresenta elétrons a uma temperatura de é
chamada banda de valência. Para temperaturas maiores que , a energia
térmica dos elétrons pode ser suficiente para levar alguns elétrons da banda de
valência para a próxima banda, até então completamente vazia. Uma vez
nessa banda os elétrons encontram bastantes estados disponíveis, o que
confere certa condutividade para o material. Por esse motivo a banda seguinte
à de valência é chamada de banda de condução.
38
Os elétrons não podem ganhar uma quantidade de energia
intermediaria entre o estado ligado e o estado livre. A mínima energia que um
elétron precisa ganhar para passar do estado ligado para o estado livre num
semicondutor é chamada de energia de banda proibida ( ).
Os materiais podem ser classificados de acordo com suas
propriedades de condução em: Condutores, Isolantes e Semicondutores. Esses
materiais possuem estruturas de bandas diferentes. A distribuição dos elétrons
na banda de valência, bem como a maneira como essa se separa da banda de
condução, são determinantes para essa classificação.
De maneira resumida, quando a última banda está cheia (número de
elétrons par) todos os estados estão ocupados, então a presença de um campo
elétrico não é capaz de mudar os elétrons de estado. Já no caso de metade da
banda estar cheia (número de elétrons ímpar), apenas a metade dos estados
está ocupada então um campo elétrico é capaz de fazer um elétron passar de
um estado para outro.
Na Figura 6 estão ilustradas as quatro configurações possíveis para
as bandas de energia em sólidos; em (a) a configuração para os metais; em (b)
a configuração para os semi-metais; em (c) a configuração para um isolante e
em (d) para materiais semicondutores. Na figura Ef é o nível de Fermi.
Rezende (2004) define nível de Fermi como o nível de energia
acima do qual não estados ocupados à temperatura . Se as
bandas de energia de um semicondutor intrínseco forem simétricas estará
exatamente no meio da banda proibida. Caso não sejam, , estará próximo,
mas não exatamente no meio.
No caso dos condutores a banda de valência se apresenta cheia
pela metade, ou completamente cheia com uma superposição com a banda de
condução. Em alguns metais, a banda de valência apresenta a metade dos
estados disponíveis, o que possibilita que a presença de um campo elétrico
39
mude os elétrons de estados, resultando numa corrente elétrica, (observar
Figura 6 (a)). Os semi-metais apresentam uma banda de valência
completamente cheia, mas essa é superposta pela banda de condução. Devido
a essa superposição os elétrons da banda de valência podem se valer dos
estados vazios, da porção da banda de condução que está superposta, (ver
Figura 6 (b)).
Os isolantes apresentam a banda de valência totalmente
preenchida, portanto sem estados disponíveis para os elétrons. Os próximos
estados disponíveis encontram-se na banda de condução, que nesse caso,
está a uma distancia em escala de energia, bastante considerável, como pode
ser observado na Figura 6 (c).
Quando a banda de valência se apresenta totalmente preenchida,
como nos isolantes, mas a distância até a banda de condução é
consideravelmente menor, como na Figura 6 (d). Os materiais apresentam
características intermediárias entre os condutores e os isolantes, por isso são
chamados de semicondutores.
Nos semicondutores a faixa de energia não é contínua, para um
elétron ser excitado pela absorção de um ton é necessário que este possua
uma energia maior ou igual à banda de energia proibida . Utiliza-se ,
em referencia a palavra inglesa gap que como spin, por exemplo, foi
incorporada ao vocabulário cientifico e é amplamente utilizada, sem restrições
no Brasil.
A passagem de um elétron da banda de valência para a banda de
condução ocorre mais facilmente nos semicondutores, que nos isolantes. Pois
o gap entre as bandas de condução e valência é menor nos semicondutores
que nos isolantes.
A passagem de elétrons da banda de valência para a banda de
condução deixa buracos na camada de valência que se comportam como
cargas positivas. Sempre que um elétron passa da banda de valência para a
40
banda de condução um par eletron-buraco é gerado. Sob a ação de um campo
externo os elétrons e os buracos conduzem corrente em sentidos opostos.
Figura 6 - (a) Estrutura de banda eletrônica encontrada em metais como o cobre. (b) Estrutura
de banda eletrônica encontrada em metais como o magnésio. (c) Estrutura
característica dos materiais isolantes. (d) Estrutura característica dos materiais
semicondutores.
FONTE: Callister (2000) apud Abreu, (2006).
As transições entre as bandas num semicondutor podem ocorrer de
maneira direta ou indireta a depender dos formatos das bandas (valência e
condução). Na Figura 7, são mostradas a transição de banda proibida direta e
a indireta.
No caso de transição direta os valores mínimos da banda de
condução e da banda de valência apresentam o mesmo valor de momentum.
Essa característica possibilita que a absorção de fótons com energia maior ou
igual à energia de banda proibida transfira elétrons da banda de condução para
a banda de valência.
Os semicondutores podem ser puros intrínsecos, ou podem ser
dopados com impurezas extrínsecos. Na Figura 8 pode-se observar o silício
puro.
Estados
preenchidos
Estados
vazios
Espaçamento
entre bandas
Banda vazia
Banda de
valência
preenchida
Espaçamento
entre bandas
Banda
condução
vazia
Banda de
valência
preenchida
Espaçamento
entre bandas
Banda
condução
vazia
Banda vazia
Banda de
valência
preenchida
E
f
E
f
(a)
(b)
(c)
(d)
41
Figura 7 - Estruturas de bandas de energia para o Si a esquerda com transição de banda
proibida indireta e o GaAs a direita com transição direta.
Fonte: Adaptado de Zse e Kwok, (2007).
Em (a); tem-se um semicondutor intrínseco. Em (b); o silício é
dopado com impurezas pentavalentes, no caso o fósforo (P), que possui cinco
elétrons na camada valência. Quando o silício é dopado com fósforo quatro dos
elétrons da banda de valência do fósforo se ligam covalentemete com átomos
vizinhos de silício, e um elétron “sobra” sem ligação. Nessa configuração o
silício passa a apresentar uma condutividade n, pois o elétron não ligado fica
livre para participar do processo de condução. em (c); o silícico é dopado
com uma impureza trivalente, no caso o boro (B), que possui três elétrons na
camada de valência. Nessa situação os três elétrons da banda de valência do
boro se ligam covalentemente com três átomos de silício vizinhos. Um dos
átomos vizinhos de silício fica sem ligação, o que é interpretado como uma
lacuna, ou buraco, que também participa do processo de condução.
42
Figura 8 - Silício puro em (a), dopado com uma impureza doadora pentavalente em (b) e com
uma aceitadora trivalente em (c).
Fonte: Zse e Kwok, (2007).
2.2.6 JUNÇÃO pn
A parte principal de uma célula fotovoltaica é uma junção pn, que é
composta por um contato de semicondutores com condutividades diferentes.
De um lado tem-se um semicondutor tipo n e do outro um do tipo p. No lado p,
os buracos são os portadores majoritários, na região n, os elétrons são os
portadores majoritários.
Supondo as camadas n e p fisicamente separadas antes da
formação da junção. O nível de Fermi está próximo da banda de condução
no lado n e próximo da banda de valência no lado p, como é possível observar
na Figura 9.
Quando os semicondutores são colocados em contato, uma
difusão de elétrons do lado n para o p e uma difusão de buracos do p para o n.
Isso ocorre devido à maior concentração de elétrons do lado n e a maior
concentração de buracos do lado p. Este fenômeno da origem a uma região
formada pelas impurezas ionizadas, doadoras no lado n e aceitadoras no p.
As impurezas doadoras formam íons positivos e as impurezas
aceitadoras íons negativos. Essa região é chamada de região de carga
espacial ou, zona de depleção. A Figura 10 mostra a formação dessa região. É
possível observar também na figura que os níveis de Fermi dos dois lados,
43
antes da junção desnivelados, se equilibram, fazendo com que a parte inferior
da banda de condução e a parte superior da banda de valência, “entortem”.
Figura 9 - Semicondutores p e n separados com os respectivos níveis de Fermi.
A concentração de cargas na zona de depleção forma um campo
elétrico orientado de n para p, esse campo elétrico induz uma corrente de
deriva, empurrando os elétrons de volta para a região n e os buracos de volta
para a região p. Deste modo o campo atua se opondo a corrente de difusão,
estabelecendo uma configuração estacionária.
O campo elétrico formado corresponde a uma diferença de potencial
entre os lados p e n da junção. Esta diferença de potencial tende a impedir a
passagem dos portadores majoritários (elétrons no lado n e buracos no p) de
um lado para o outro. Devido à forma de variação do potencial ele é chamado
de barreira de potencial. A Figura 10 mostra tal barreira. A formação dessa
barreira é o fenômeno físico mais importante que ocorre na junção, e é o
princípio fundamental de funcionamento das células solares.
Nas células solares a junção pn é composta por uma fina camada p
que absorve a maior parte da radiação incidente, essa absorção libera elétrons
que, na camada p são portadores minoritários, após a absorção da luz esses
portadores minoritários são difundidos para a junção, onde são fortemente
empurrados para o lado n devido ao forte campo elétrico intrínseco. A energia
elétrica é recolhida pelos contatos de metal na parte frontal e traseira da célula.
p
n
44
Figura 10 - Carga, campo elétrico, potencial e níveis de energia na zona de depleção da junção
p-n.
Fonte: Adaptado Rezende (2004).
2.3 ELETRODEPOSIÇÃO
2.3.1 INTRODUÇÃO
Os materiais semicondutores, entre eles o CdTe podem ser
depositados em substratos metálicos através da cnica de eletrodeposição,
sendo um método relativamente simples e barato. A eletrodeposição é um
processo eletroquímico que ocorre na interface entre um material condutor
(eletrodo) e uma solução condutora iônica (eletrólito). Esse processo
eletroquímico é conseqüência da aplicação de um potencial elétrico e da
conseqüente passagem da corrente elétrica através da interface
-
-
-
-
++++++
n
p
Barreira de Potencial
E
45
eletrodo/eletrólito. San Miguel (2003) define eletrodeposição como o processo
de deposição de um filme em um substrato utilizando uma corrente elétrica.
2.3.2 PRINCÍPIOS BÁSICOS DA ELETROQUÍMICA
De um modo geral, a eletroquímica estuda as reações de oxi-
redução que produzem ou são produzidas pela corrente elétrica em meios
eletrolíticos. Nos acumuladores e pilhas ocorrem reações espontâneas que
produzem uma corrente elétrica. no processo de eletrólise é a corrente
elétrica que produz uma reação química. Essas reações químicas, que
produzem ou são produzidas devido à corrente elétrica, ocorrem dentro de um
eletrólito (soluções iônicas) onde há o movimento de íons. Os eletrólitos podem
ser soluções líquidas, sais fundidos ou mesmo sólidos. Além do eletrólito, no
sistema eletroquímico, temos, ainda, os eletrodos, que são no mínimo dois, e
podem ser: metais, semicondutores e líquidos. Denomina-se como deposição
eletrolítica ou eletrodeposição a técnica de fabricação de amostras que
consiste em provocar, mediante a passagem de corrente elétrica, a redução
sobre um substrato, denominado eletrodo de trabalho (ET), de determinados
elementos presentes no eletrólito. A Figura 11 representa uma célula
eletrolítica e seus componentes básicos.
Há duas formas de se realizar uma eletrodeposição:
i) Eletrodeposição galvanostática: nesse modo a fonte externa fornece uma
corrente elétrica mantida constante para o sistema durante o processo de
deposição.
ii) Eletrodeposição potenciostática: a fonte fornece uma diferença de potencial
que é mantida constante entre o eletrodo de trabalho e o contra-eletrodo
durante o processo de deposição. Um eletrodo de referência constituído por
uma ponte salina em contato com a solução pode ser usado.
46
Figura 11 - Esquema básico de uma célula eletrolítica
Segundo Gamboa et al. (1998) a eletrodeposição pode ocorrer de
duas formas distintas: no modo potenciostático (potencial constante) ou
galvanostático (corrente constante). O modo potenciostático é mais preciso
pois é possível se aplicar o potencial exato de redução no eletrodo de trabalho
obtendo-se filmes de boa qualidade. Nesse caso é necessário um
potenciostato e uma montagem experimental com três eletrodos. Já modo
gavanostático pode-se estabelecer uma corrente entre eletrodo de trabalho e o
contra-eletrodo usando-se apenas uma simples fonte de corrente.
Nesse trabalho a eletrodeposição será realizada, no modo
potenciostático, sendo utilizado um eletrodo de referência auxiliar. Um eletrodo
de referência consiste de uma semipilha em contato com a solução eletrolítica
por uma membrana porosa (ou ponte salina) capaz de fornecer um potencial
elétrico padrão constante para a efetuação da medida de diferença de
potencial, através de um gradiente de potencial químico em condições de
concentração bem conhecida.
2.3.3 REAÇÕES DE OXIREDUÇÃO (REDOX)
Numa célula eletroquímica, têm-se as semi-reações redução e
oxidação: no cátodo (eletrodo de trabalho) acontece a semi-reação de redução,
em que o eletrodo fornece elétrons a um íon positivo ou cátion. Quando o
cátion é um íon metálico, a redução é acompanhada pela sua deposição sobre
47
o cátodo, que atua como substrato. Assim, na eletrodeposição, o metal é
eletrodepositado segundo a reação:
(2.3)
Porém, durante a eletrodeposição de metais em meios aquosos, a
produção secundária de hidrogênio devido à eletrólise da água deve receber
uma atenção especial. Devido ao caráter geralmente ácido (baixos valores de
, resultando em abundância de na solução) dos eletrólitos utilizados, e
da proximidade dos potenciais padrão de redução para os metais e para o
hidrogênio, a participação do hidrogênio no processo de eletrodeposição de
metais ocorre na maioria dos casos.
O desprendimento de gás hidrogênio (H
2
) pode ocorrer segundo uma
das reações:
(2.4)
ou
(2.5)
O gás hidrogênio tende a promover a formação de bolhas no
eletrodo de trabalho que podem vir a ser incorporadas no filme gerando
porosidade ou, simplesmente, gerando buracos (com formato de crateras) ou
estrias alongadas nos eletrodepósitos sobre o eletrodo de trabalho.
Normalmente, durante uma voltametria cíclica de inspeção, o desprendimento
do hidrogênio é acompanhado pelo aumento rápido da corrente catódica. O
hidrogênio pode interferir no processo de eletrodeposição do metal não
somente pela formação do gás. Este pode se ligar ao metal segundo a reação:
(2.6)
Dependendo da energia de ligação metal-hidrogênio e do
coeficiente de difusão do hidrogênio no metal, pode ocorrer a formação de um
hidreto, hidróxido ou óxi-hidróxido e, eventualmente, a subseqüente reação:
48
(2.7)
Para qualquer dessas possibilidades, existe o comprometimento da
morfologia e da estrutura do filme.
Por outro lado, no anodo, ocorre a semi-reação de oxidação. Quando o
ânion é um íon hidróxido, produz-se gás oxigênio segundo a reação:
(2.8)
Essa semi-reação acontece quando se trabalha com contra-
eletrodos (CT) inertes como a platina, que é o eletrodo utilizado nesse trabalho.
Neste caso, o CT promove apenas o fechamento do circuito elétrico para
circulação da corrente, sem interferir no processo de redução e deposição no
eletrodo de trabalho ET.
2.3.4 LEIS DE FARADAY
Michael Faraday (1791-1867) formulou duas leis que regem a parte
quantitativa dos fenômenos ligados à eletrólise. Partindo do princípio que “a
passagem de uma corrente elétrica de um condutor metálico para um condutor
eletrolítico, ou vice-versa é sempre acompanhada por uma reação
eletroquímica”, Faraday propôs: “A magnitude do efeito químico, em
equivalentes químicos, é a mesma tanto na superfície metálica quanto na
solução eletrolítica e está determinada somente pela quantidade de eletricidade
que passa”. Ou seja, se um equivalente de elétrons flui através de uma
interface, um equivalente grama da espécie envolvida no processo
eletródico deverá ser oxidada ou reduzida. Onde um equivalente de elétrons
corresponde matematicamente a:
(2.9)
49
Onde é a constante de Faraday, = número de Avogadro e é carga do
elétron. Portanto, em uma eletrólise, a massa de material envolvida em cada
um dos processos eletródicos é dada pela expressão:
(2.10)
onde é a carga elétrica transferida e é dado por: , sendo o
número de elétrons envolvidos nas respectivas reações de redução ou
oxidação. Esta expressão permite, por exemplo, a determinação da massa e
espessura do material depositado admitindo-se que a densidade é constante e
conhecida.
Dois tipos de processos podem ocorrer nos eletrodos, os faradáicos
e os não faradáicos.
Um tipo é aquele em que as cargas são transferidas através da
interface metal/solução (eletrodo/eletrólito). Essa transferência de elétrons
causa oxidação ou redução, dado que essas relações são governadas pela lei
de Faraday (as quantidades de substancias liberadas ou acumuladas nos
eletrodos de uma célula são diretamente proporcionais à quantidade de carga
que passa através da solução), elas são chamadas de processos faradcos
(BARD E FAULKNER, 2001).
Bard e Faulkner (2001) também afirmam que atendendo algumas
condições uma dada interface metal/solução mostrará um intervalo de potencial
onde não ocorrem transferências de carga porque as reações são
termodinamicamente ou cineticamente desfavoráveis. Todavia, processos tais
como: adsorção e dessorção podem ocorrer, e a estrutura da interface pode
mudar com alterações no potencial ou composição da solução. Esses
processos são chamados de não-farádicos.
50
2.3.5 MODELOS DE DUPLA CAMADA
A região de fronteira entre duas fases com composições distintas é
caracterizada pela presença de forças anisotrópicas. Um exemplo comum onde
isto acontece é na interface água e ar, resultando no aparecimento do
fenômeno de tensão superficial da água.
Em um béquer cheio de água, cada molécula no interior do mesmo
interage com as moléculas vizinhas, dentro uma região esférica centrada nessa
molécula, de forma homogênea, sendo as forças, portanto, isotrópicas.
Entretanto, no caso de uma molécula situada na superfície da água e em
contato com o ar é diferente. Na semi-esfera situada abaixo da superfície, a
molécula interage com outras moléculas de água e na semi-esfera de cima a
interação se dá com as moléculas das espécies que formam o ar; é dessa
anisotropia que surge a tensão superficial da água e as demais características
da interface.
Considerando agora um soluto iônico dissolvido em água, observa-
se que o comportamento de um íon no interior da solução é governado por
forças isotrópicas, enquanto que de um íon perto da superfície é governado por
forças anisotrópicas. Assim, se a concentração desse íon for mapeada em
função de sua posição, verificar-se-á que no interior da solução ela é sempre
constante. Por outro lado, dependendo da componente total das forças
anisotrópicas superficiais, nas regiões próximas a interface haverá um aumento
ou diminuição na concentração do íon. Neste caso, como espécies carregadas
eletricamente estão envolvidas, o resultado será uma distribuição desigual de
cargas elétricas da qual se segue o aparecimento de uma diferença de
potencial entre o interior e a superfície da solução.
Em uma interface eletrodo/eletrólito, os fenômenos ocorrem de
maneira semelhante ao que foi descrito acima se diferenciando apenas no fato
de que a diferença de potencial entre o eletrodo e a solução pode ser
controlada através de um circuito externo. A região de fronteira nesse caso é a
51
interface onde se forma uma dupla camada elétrica após o equilíbrio. Na
ausência de fatores externos, a anisotropia de forças, incluindo as forças
eletrostáticas presentes na interface, resulta em um acúmulo ou carência de
determinadas espécies sobre a superfície interfacial em relação ao meio da
solução. Adicionalmente, deve levar-se em consideração que apenas nas
interfaces eletrodo/eletrólito é possível impor uma diferença de potencial
variável através de uma fonte externa. Isso permite externamente a adsorção
de cargas e dipolos.
O modelo proposto por Helmholtz em 1853 foi o primeiro modelo
teórico que descreveu os fenômenos que ocorrem quando um eletrodo sólido é
imerso em um eletrólito líquido. Segundo esse modelo, as cargas se
posicionam a uma distância fixa da superfície do eletrodo. Essa distância é
determinada pelo raio das esferas de íons hidratados. À distância do centro das
esferas ao eletrodo (XHP) origina o plano de Helmholtz (Helmholtz Plane
HP), como mostra a Figura 12. Dessa forma, a interface metal/solução consiste
de duas camadas iguais e de cargas opostas, as quais originam a dupla
camada de Helmholtz, que é equivalente a um capacitor de placas paralelas.
O modelo de Helmholtz falha em relação aos resultados
experimentais, quando afirma que para valores constantes de e a
capacitância independe do potencial. Do ponto de vista qualitativo, entretanto,
o modelo de Helmholtz tem o grande mérito de poder prever o formato genérico
das respostas experimentais, em particular o perfil das curvas eletrocapilares e
o perfil da curva da carga acumulada sobre a superfície metálica. A partir do
modelo de Helmholtz, foi proposto um novo modelo, independentemente, por
Gouy em 1910 e Chapman em 1913. Esse modelo afirma que, a capacitância
total depende da distribuição de potencial na dupla camada.
Experimentalmente, para soluções muito diluídas e potenciais baixos o modelo
de Gouy-Chapman fornece resultados bastante razoáveis. No entanto, para
soluções concentradas e potenciais altos esse modelo também não concorda
com os dados experimentais. A partir da combinação dos dois modelos
anteriores surgiu o modelo de Stern em 1924. Esse modelo separa a interface
da região de dupla camada em duas regiões, fazendo com que a capacitância
52
seja obtida devido a duas contribuições: a capacitância de Helmholtz (CH) e de
Gouy-Chapman (CGC). Assim no modelo de Stern, a capacitância total é
equivalente a dois capacitores em série.
Figura 12 - (a) Modelo de Helmholtz para a dupla camada, sendo a densidade de carga
em excesso no metal e , a densidade de carga em excesso na solução. (b)
Variação do potencial elétrico na solução em função da distância ao eletrodo.
O modelo de Helmholtz falha em relação aos resultados
experimentais, quando afirma que para valores constantes de e a
capacitância independe do potencial. Do ponto de vista qualitativo, entretanto,
o modelo de Helmholtz tem o grande mérito de poder prever o formato genérico
das respostas experimentais, em particular o perfil das curvas eletrocapilares e
o perfil da curva da carga acumulada sobre a superfície metálica. A partir do
modelo de Helmholtz, foi proposto um novo modelo, independentemente, por
Gouy em 1910 e Chapman em 1913. Esse modelo afirma que, a capacitância
total depende da distribuição de potencial na dupla camada.
Experimentalmente, para soluções muito diluídas e potenciais baixos o modelo
de Gouy-Chapman fornece resultados bastante razoáveis. No entanto, para
soluções concentradas e potenciais altos esse modelo também não concorda
53
com os dados experimentais. A partir da combinação dos dois modelos
anteriores surgiu o modelo de Stern em 1924. Esse modelo separa a interface
da região de dupla camada em duas regiões, fazendo com que a capacitância
seja obtida devido a duas contribuições: a capacitância de Helmholtz (CH) e de
Gouy-Chapman (CGC). Assim no modelo de Stern, a capacitância total é
equivalente a dois capacitores em série.
Após alguns estudos experimentais verificou-se que soluções de
diferentes eletrólitos apresentam comportamentos distintos, contrariando o
modelo de Gouy-Chapman e Stern. Dessa forma, Grahame propôs um outro
modelo para a interface, denominado, o modelo da tripla camada. Nesse
modelo, Grahame introduziu o plano de Helmholtz interno (Inner Helmholtz
Plane-IHP), formado pelos centros dos íons adsorvidos parcialmente ou
totalmente desidratados e o plano de Helmholtz externo (Outer Helmholtz
Plane-OHP) formado pelo centro dos totalmente desidratados. As modificações
propostas por Grahame estão em maior concordância com os dados
experimentais, quando comparado com os modelos anteriores. Ainda buscando
melhorar a compreensão dos fenômenos que ocorrem na interface
eletrodo/eletrólito Bockris, Devanathan e Mueller consideraram no modelo de
Grahame, a adsorção dos íons completamente hidratados no eletrodo com a
camada de dipolo de água presente, melhorando dessa forma a concordância
do modelo com os dados experimentais. Esse é o modelo mais aceito nos dias
atuais.
Listam-se acima algumas iniciativas pioneiras de análise da
formação da dupla camada e a migração dos íons (eventualmente, espécies e
complexos iônicos criados na solução eletrolítica) por difusão ou assistida por
campos elétricos nas imediações do eletrodo de trabalho (geralmente, ocorre
formação de uma camada de transferência de carga) responsáveis pelo
controle do processo de redução. No entanto, os mecanismos possíveis para
as espécies iônicas envolvidas na redução dependem enormemente do tipo de
eletrólito e substrato utilizado. Além disso, vários outros parâmetros
eletroquímicos envolvidos, como por exemplo: temperatura, potencial e/ou
corrente de eletrodeposição, concentração de íons total, ou ainda do valor de
54
. A taxa de iluminação e a presença ou não de aditivos com efeitos
surfactante, anticorrosivos ou relaxadores de tensão mecânica, são outros
exemplos de fatores a serem avaliados.
2.3.6 NUCLEAÇÃO E CRESCIMENTO
Nos primeiros momentos do processo de formação de filmes finos,
ou seja, o processo de nucleação, um número suficientemente grande de íons
metálicos se fixa de modo permanente sobre o substrato. A partir daí ocorre
uma série de fenômenos de pós-nucleação ou crescimento que também
influenciam nas características do filme em formação. Assim, a etapa de
nucleação é de grande relevância, principalmente para sistemas eletroquímicos
onde o eletrodo de trabalho, normalmente, não é composto pelo mesmo
material a ser depositado. A Figura 13 mostra as etapas de nucleação e
crescimento de filmes finos.
Na Figura 13 (a) tem-se o início do processo de nucleação. Os íons
metálicos (ou mais genericamente, espécies e/ou complexos iônicos) são
adsorvidos sobre os sítios ativos de nucleação na superfície do substrato, onde
são totalmente ou parcialmente neutralizados. Esses íons são denominados de
adátomos, por encontrarem-se ligados ao substrato apenas por adsorção
química (quimissorção) ou física (fisissorção), resultando numa fase
intermediária entre o estado iônico na solução e o metálico no depósito. Esses
adátomos possuem mobilidade, movimentando-se difusionalmente na
superfície em busca da melhor posição (minimização de energia superficial)
para se fixarem e formarem pequenas ilhas ou cristalitos sobre o substrato. Na
Figura 13 (b) essas pequenas ilhas ou cristalitos, num processo contínuo, vão
aumentando suas dimensões. Eventualmente, nucleação secundária e
desaparecimentos (dessorção) de sítios de nucleação primária podem ocorrer.
A seguir nas Figuras 13 (c) e (d) inicia-se o processo de coalescência. Ou seja,
as ilhas iniciais crescem superpondo sua região de influência sobre adátomos e
fundem-se formando ilhas maiores. Na Figura 13 (e) o processo de
coalescência continua aparecendo canais sobre o substrato. Na Figura 13 (f)
55
os canais desapareceram dando filme contínuo lugar a pequenos buracos
(origem da porosidade) sobre o substrato, esse processo continua até a
formação de um filme, praticamente, contínuo. Em filmes eletrodepositados no
modo potenciostático, é possível monitorar os processos de nucleação e
crescimento através do acompanhamento da evolução da corrente no tempo.
No processo inicial da nucleação é em geral observada uma intensidade de
corrente grande, denominada pico de nucleação.
Figura 13 - Ilustração das várias fases de crescimento de um filme: nucleação inicial e
secundária, formação e crescimento de ilhas, coalescência e formação de depósito.
Essa corrente tende a diminuir conforme o processo de coalescência
for dominando, atingindo em alguns casos um valor quase-estacionário
(depósitos condutores) após um dado intervalo de tempo, ou sofrendo parcial
ou total inibição (depósitos isolantes) em outros casos. Existem basicamente
dois processos de nucleação. A nucleação progressiva, aonde os cleos de
crescimento vão surgindo sucessivamente durante o processo de deposição. E,
a nucleação instantânea, onde os núcleos de crescimento são formados
(a)
(b)
(f)
(c)
(d)
(e)
56
simultaneamente ao se aplicar um potencial à célula eletroquímica. Não raro
são os casos onde se observa uma nucleação mista. Alguns modelos foram
criados para tentar descrever os transientes de corrente no processo de
nucleação e crescimento de filmes finos. O modelo de Scharifker e Hills (1983),
modelo SH, é o que melhor se adapta ao processo de nucleação e crescimento
em células eletroquímicas.
2.3.7 DIAGRAMA DE WINAND
Considerando a influência de aditivos nos processos de
eletrodeposição, Winand (1994) elaborou um diagrama hipotético, relacionando
as diferentes morfologias dos eletrodepósitos que podem ser obtidas com a
variação de dois parâmetros: a densidade de corrente e a intensidade de
inibição (a interpretação deste último é puramente conceitual, não existe uma
técnica experimental para a sua medida). A Figura 14 ilustra o diagrama de
Winand com uma correlação entre a densidade de corrente e a intensidade de
inibição. O autor agrupa, mediante estes parâmetros, os diferentes tipos de
eletrodepósitos os quais foram anteriormente classificados por Fisher em 1954,
baseado principalmente, na forma, no tamanho e na distribuição dos cristais.
Sumariamente, tem-se a seguinte descrição dos tipos de
eletrodepósitos quanto a sua formação, desconsiderando a sua análise
mecanística.
Orientado na direção das linhas de corrente (FI, field-orientated
isolation type) O crescimento se em monocristais sobre a superfície do
eletrodo. Exibe grandes dimensões e, frequentemente, mostra-se como
dendrita, evoluindo para depósitos com a forma prismática e, finalmente para
depósitos pulverulentos, á medida que aumenta a densidade de corrente. Esse
tipo de crescimento não origina depósitos compactos como observados para
metais com baixo ponto de fusão, como o Sn e o Pb.
57
Orientado pela base (BR, basis orientated reproduction type) O
crescimento das camadas do eletrodepósito prossegue em direção tangencial á
superfície do substrato. É observado em densidades de corrente moderadas,
ou seja, existe tempo suficiente para o crescimento lateral.
Figura 14 - Diferentes tipos possíveis de eletrodepósitos relacionados com a densidade de
corrente e à intensidade de inibição.
Fonte: Winad (1993).
Textura orientada pelo campo (FT, field-orientated texture type) O
crescimento ocorre paralelo ás linhas de corrente; é caracterizado por um
grande número de cristais alongados perpendiculares á superfície do substrato.
É, em geral, observado quando se utilizam altas densidades de corrente.
Dispersão não-orientada (UD, unorientated dispersion type) é
obtido em altas densidades de corrente; não exibe orientação de crescimento
preferencial, com grande número de pequenos cristais.
Finalmente, para altas densidades de corrente, porém baixas
intensidades de inibição, em que predominam os fenômenos de transporte se
produzem estruturas do tipo whiskers (filamentos), dendritas ou até pó. Esses
58
tipos de depósitos resultam dos processos de transporte de massa sobreposta
a uma alta velocidade de nucleação.
A Figura 15 mostra outro diagrama, também proposto por Winand.
Este apresenta a região de estabilidade dos vários tipos de estruturas de
eletrodepósitos que são normalmente observados e, as mudanças que podem
acontecer pela variação das condições de eletrodeposição.
Figura 15 - Diagrama de Winand. Regiões de estabilidade das diversas estruturas de
eletrodepósitos.
Fonte: Winad (1993).
Existem outros tipos de estruturas de eletrodepósitos. Todavia, estes
outros representam formas transitórias daquelas mostradas por Fischer. Por
exemplo, o tipo Z (twinning intermediante), é considerado como a forma
intermediária entre a do tipo BR e a do tipo FT.
2.4 TÉCNICAS EXPERIMENTAIS
2.4.1 VOLTAMETRIA CÍCLICA
59
A voltametria é uma técnica eletroquímica onde, as informações
qualitativas e quantitativas de uma espécie química, são obtidas a partir do
registro de curvas corrente-potencial feitas durante a eletrólise dessa espécie
em uma célula eletroquímica constituída de dois ou três eletrodos. Os eletrodos
são chamados de eletrodo de trabalho, eletrodo de referência e eletrodo
auxiliar.
Os primeiros estudos voltamétricos foram feitos por Heyrovsky e
Kuceras em 1922 usando um eletrodo gotejante de mercúrio como eletrodo de
trabalho e como eletrodo de referência um eletrodo de calomelano saturado
(ALEIXO, 2003).
Está técnica é extremamente poderosa e está entre os métodos
eletroquímicos mais amplamente utilizados (BARD, 2001). Sempre que se
pretende estudar um novo sistema eletroquímico a voltametria cíclica e
primeiro experimento a ser realizado. Seus resultados permitem avaliar a
presença de espécies eletroativas no eletrólito ou na superfície do eletrodo
(CHRISTENSEN E HAMNETT, 1994)
Na voltametria cíclica uma grande variação de potencial periódico é
imposta ao sistema. Nessa cnica o potencial é varrido entre dois pontos de
modo a fechar um ciclo, durante todo esse tempo a corrente é monitorada. O
registro da variação da corrente com a aplicação do potencial com o passar do
tempo é chamado de voltamograma cíclico. Para realizar uma voltametria
cíclica são necessários um potenciostato, uma célula eletroquímica e um
computador para registrar as curvas J x E. A sensibilidade da voltametria
cíclica é proporcional a velocidade de varredura, através dessa técnica é
possível detectar quantidade de espécies eletroativas muito pequenas, por
outro lado a sensibilidade a impurezas também é bastante elevada, o que leva
a necessidade de eletrólito extremamente puro.
Para realizar uma voltametria cíclica são necessários um
potenciostato, uma célula eletroquímica e um computador para registrar as
curvas J x E. Antes da realização do experimento o eletrólito é purgado com
60
nitrogênio, que é um gás inerte, a fim de expulsar o oxigênio, para evitar que
correntes devidas à redução do oxigênio interfiram nas respostas obtidas para
o sistema em estudo.
A célula eletroquímica utilizada é composta por três eletrodos, o
eletrodo de trabalho, o contra eletrodo e o eletrodo de referencia. O potencial
aplicado no eletrodo de trabalho, em relação a eletrodo de referencia, é
monitorado e controlado de maneira muito precisa através da utilização de um
potenciostato. Com este recurso o eletrodo de referência realizará o seu papel
sem interferências, que é o de manter o seu potencial constante durante as
medidas. Por isto pode-se usar além do eletrodo de trabalho e do auxiliar, um
eletrodo de referência de dimensões pequenas, o que facilita o uso de
recipientes voltamétricos de tamanho reduzido.
2.4.2 MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA
O microscópio eletrônico de varredura é um dos instrumentos mais
versáteis disponíveis para o exame e a análise das características
microestruturais de objetos sólidos. É um equipamento capaz de produzir
imagens de alta ampliação (até 300.000 x) e resolução. As imagens obtidas
permitem a análise da morfologia dos filmes, no que diz respeito ao tamanho e
contorno dos grãos, bem como, verificar a presença ou não de defeitos na
superfície, tais como trincas e orifícios e também o grau de recobrimento do
substrato.
2.4.3 DIFRAÇÃO DE RAIOS X
A técnica de difratometria de raios-X consiste na incidência de um
feixe de raios-X sobre um conjunto de planos cristalinos (amostra), cuja
distância interplanar é . O ângulo de incidência do feixe é . Os feixes
refletidos por dois planos subsequentes apresentam o fenômeno da difração. A
61
lei de Bragg ( ) desempenha papel fundamental no uso da
difração de raios-X para estudos cristalográficos.
Esta técnica permite caracterizar não somente a estrutura
cristalográfica do eletrodepósito como também identificar as formas alotrópicas
do metal formado sobre o substrato, além de inferir algum efeito epitaxial.
A interferência construtiva da radiação refletida pelos planos
sucessivos ocorre quando a diferença de caminho for um número inteiro de
comprimentos de onda de modo que , a distância interplanar,
característica do tipo de arranjo cristalino, do parâmetro de rede e da família de
planos, e é conhecida como ângulo de difração de Bragg.
As famílias de planos são indexados pelos índices de Miller (hkl) em
que h, k e l são os inversos das coordenadas, 1/x, 1/y e 1/z, do sistema de
coordenadas associado à rede cristalina.
A intensidade integrada (I) de uma reflexão de um material
policristalino em um experimento com um difratômetro é dada pela equação
2.25,
(2.14)
onde é o ângulo de espalhamento do monocromador, a intensidade do
feixe incidente, e são a carga e a massa do elétron respectivamente, é
a velocidade da luz, o comprimento de onda da radiação incidente, o raio
do círculo do difratômetro, a área da seção transversal do feixe incidente,
o volume da célula unitária e o ângulo de Bragg. O termo
é o fator de Lorentz-Polarização, é a multiplicidade, é o fator de absorção,
62
é o fator de estrutura que representa a amplitude e a fase da onda de raio-x
espalhada resultante, e é geralmente um número complexo.
2.4.4 ESPECTROSCOPIA DE ANÁLISE DA ENERGIA DISPERSIVA POR
RAIOS-X (EDX)
A espectroscopia de dispersão de raios-X (EDX), conhecida também
por espectroscopia por dispersão de energia (EDS) é muito importante na
análise dos filmes depositados, pois esta permite verificar informações acerca
da composição química do eletrodepósito, ou seja, se houve incorporação do
aditivo presente no banho de deposição ou de outros metais ou impurezas.
Pode-se ainda verificar quantitativamente a presença dos elementos na
amostra de interesse.
63
3 REVISÃO DE LITERATURA
3.1 ESTADO DA ARTE PARA CÉLULAS SOLARES DE CdS/CdTe.
3.1.1 INTRODUÇÃO
As células solares de filmes finos são uma realidade, estão no
mercado com um preço competitivo, e com outros diferenciais como, por
exemplo, a estética que aparece mais atraente que os módulos de silício.
Dentre os tipo de filmes finos utilizados na construção de
dispositivos fotovoltaicos, o CdTe se destaca, e é utilizado em diversas
configurações. A configuração mais utilizada para dispositivos fotovoltaicos que
utilizam o CdTe é a que apresenta uma heterojunção CdS/CdTe. Nessa seção
será apresentado o estado da arte para esse tipo de dispositivo.
3.1.2 CONFIGURAÇÃO BÁSICA
A primeira célula solar de filme fino de CdTe eficiente foi
apresentada por CUSANO e apresentava eficiência próxima de 6%. Tratava-se
de um dispositivo constituído por um filme de CdTe tipo n, crescido
quimicamente, com uma fina camada de Cu
2
-
x
Te sobre sua superfície.
Entretanto, tal célula apresentava a desvantagem da baixa estabilidade da
camada Cu
2-x
Te, em virtude da difusão do cobre através da junção (FALCÃO,
2005).
64
Mas foi a partir da célula desenvolvida Bonnet e Rabenhorst em
1972, com uma eficiência de 6 % que, segundo Poortmans e Arkhipov (2006),
as células solares baseadas em telureto de cádmio alcançaram um caminho de
sucesso evoluindo até o recorde atual de eficiência de 16,5% obtido em 2002
por uma equipe NREL (National Renewable Energy Laboratory). A estrutura
dessa célula solar fotovoltaica, é a que tem como núcleo uma heterojunção
CdS/CdTe, com a camada de CdS, sendo depositada por banho químico e a
camada de CdTe por sublimação em espaço reduzido.
Durante essas três décadas o maior domínio dos princípios físicos
de operação, juntamente com o grande aperfeiçoamento das técnicas de
deposição. Possibilitaram essa quase triplicação da eficiência, em escala de
laboratório, e segundo Hegedus (2009), estão disponíveis no mercado
equipamentos com eficiência de 11%.
Atualmente duas empresas estão comercializando módulos
fotovoltaicos com essa configuração Antec Solar na Alemanha e a First Solar
nos Estados Unidos da América (POORTMANS E ARKHIPOV 2006). Os
módulos de CdTe são os mais baratos do mercado, a empresa Fist Solar
anunciou, recentemente, um custo de produção de US$1,00 / Wp.
A escolha do par CdS/CdTe se dá porque a região de maior potencia
do espectro solar, situa-se exatamente entre as energias de banda proibida do
CdS (2,42 eV) e do CdTe (1,5 eV) (FERREIRA, 1999). Um típico dispositivo
CdS/CdTe é composto por cinco camadas: uma camada de vidro, um óxido
transparente condutivo, que atua como contato frontal, um filme de CdS
conhecido como camada de janela, um filme de CdTe conhecido coma camada
absorvedora e um contato traseiro que fica sobre o CdTe.
A estrutura dessa superposição de camadas pode ser observada na
Figura 16 abaixo, onde é possível observar o dispositivo de heterojunção
CdS/CdTe sendo atingido ela luz. Pode-se notar também que a camada ativa
de CdTe necessita de uma espessura reduzida, apenas 2μm para absorver
65
grande parte dos fótons incidentes. A camada de janela, o CdS tem uma
espessura consideravelmente menor que a camada absorvedora. Alem da
heterojunção a figura mostra também o oxido transparente condutivo, por onde
é captada a luz e o contato traseiro que faz a interface substrato/semicondutor.
Figura 16 - Estrutura de uma célula solar de CdS/CdTe.
3.1.3 DETALHAMENTO DA ESTRUTURA
Substrato de vidro: O vidro tem por função dar resistência
mecânica à célula e, em geral, apresenta espessura de 2 a 4 mm. Existem
vários tipos de vidro que podem ser utilizados como substrato tais como o
sodalime, o borossilicato além do quartzo. O mais indicado seria o borossilicato
por não permitir a difusão de impurezas. Devido ao baixo custo, o sodalime é
mais conveniente para produção industrial. Contudo, este tipo de vidro contém
sódio, o qual pode difundir-se durante a deposição de outras camadas, quando
as técnicas de deposição das mesmas envolvem altas temperaturas, e/ou
quando são realizados tratamentos térmicos pós-deposição. Para evitar este
problema, pode-se depositar uma camada passivadora de alumina (Al
2
O
3
) ou
sílica (SiO
2
) sobre o vidro antes da deposição do óxido transparente condutivo
TCO. Uma alternativa seria depositar uma camada de óxido de estanho (SnO
2
)
sobre a camada de óxido transparente condutivo (ITO) para controlar a difusão
do sódio. Uma outra desvantagem do sodalime é o fato de o mesmo apresentar
Vidro
TCO
CdS
Contato metálico
66
propriedades ópticas piores que as do borossilicato, o que pode resultar em
perdas na corrente de curto circuito (J
cc
) o que contribui para diminuir a
eficiência das células (FALCÃO, 2005).
Oxido Transparente Condutivo: A função da camada de óxido
transparente condutivo, depositado sobre o substrato de vidro, é formar um
contato frontal altamente transparente e eficiente com a subseqüente camada
de CdS. A estrutura vidro/TCO/CdS é denominada “janela de absorção”. Para
ser usado como contato frontal, o TCO deve ter as seguintes características:
alta transparência, acima de 85%, na região de comprimento de onda de
interesse (400 a 860 nm), ou seja, deve apresentar elevada transmitância
óptica; baixa resistividade, da ordem de 2. 10
-2
Ω.m ou uma resistência
superficial menor que 10 Ω/quadro; boa estabilidade à temperatura máxima na
qual a camada subseqüente será depositada (ACEVEDO, 2006). Isto significa
que não deve haver difusão dos elementos do TCO para as camadas
depositadas posteriormente. Vários tipos de TCOs têm sido usados e testados
para células solares de CdS/CdTe: um resumo dos principais tipos de TCO
com suas respectivas propriedades é apresentado na Tabela 1.
Acevedo (2006) argumenta que é possível tirar vantagem de
propriedades diferentes de dois materiais, formando uma bi-camada,
consistindo em uma camada com alta condutividade e baixa resistência.
Tabela 1 - Propriedades de alguns dos mais comuns óxidos transparentes condutivos (TCO) e
bi-camadas.
Fonte: Adaptado de Acevedo, 2006.
Material Resistividade (Ωcm) Transparencia (%)
SnO
2
8 x 10
-4
80
In
2
O
3
:Sn(ITO)
2 x 10
-4
>80
In
2
O
3
:Ga(IGO)
2 x 10
-4
85
In
2
O
3
:F
1 x 10
-2
85
Cd
2
SnO
4
(CTO)
2 x 10
-4
95
Zn
2
SnO
4
(ZnTO)
1 x 10
-2
90
ZnO:In 8 x 10
-4
85
67
CdS: O sulfeto de cádmio é um semicondutor do grupo II VI, tipo n,
com energia de banda proibida, com transição direta de 2,42 eV. Com esse
valor de banda proibida é inadequado para a conversão fotovoltaica de energia
solar, mas é ideal para ser usado como janela óptica para células de CdTe
(SAN MIGUEL, 2003). Apresenta boa estabilidade química, o que possibilita a
deposição de filmes com espessura suficiente para permitir uma alta
transmitância óptica.
O CdS é depositado através de diversas técnicas como por exemplo:
banho químico e sublimação em espaço reduzido. Com essas técnicas tem se
conseguido produzir camadas que são utilizadas em dispositivos fotovoltaicos
CdS / CdTe com eficiências maiores que 10%. A célula que detém o recorde de
eficiência teve sua camada de CdS depositada pela técnica de banho químico,
que possibilita um filme muito compacto e que cobre perfeitamente toda a
camada de óxido transparente condutivo.
Independentemente da técnica de deposição utilizada, o tratamento
térmico na presença de CdCl
2
é amplamente utilizado. Segundo Caboclo
(2008) o presente tratamento possui um importante papel no crescimento dos
grãos, na cristalização, na transição de fase cúbica para hexagonal e na
melhoria das propriedades ópticas do material.
CdTe: O telureto de cádmio é um semicondutor do grupo II VI, é o
único do grupo que pode apresentar a condutividade do tipo p, ou do tipo n,
com energia de banda proibida, com transição direta de 1,5 eV; muito próximo
do valor ótimo de conversão fotovoltaica da energia solar que é 1,45 eV. O
valor de banda proibida também determina a o coeficiente de absorção para a
luz visível maior que 10
5
cm
-1
. O CdTe apresenta alta taxa de absorção. Na
Figura 19, pode-se observar a porcentagem de fótons convertidos em energia
elétrica. Devido a essa alta taxa de absorção uma camada de poucos μm é
suficiente para absorver mais que 90 % da luz incidente. A Figura 17, mostra
que 1 μm absorve cerca de 92 % dos fótons úteis. Entretanto a espessura
utilizada gira em torno de 2 a 4 μm, para garantir que toda a luz seja absorvida
(FALCÃO, 2005).
68
Espessura da célula / µm
Figura 17 - Fração de Fótons úteis que são convertidos em energia elétrica.
Fonte: Poortmans e Arkhipov (2006).
Contato metálico: para fechar a célula é necessário uma junção
ôhmica de baixa resistência entre o CdTe e o contato metálico, para que haja o
transporte da fotocorrente gerada (FALCÃO, 2005), de acordo com Acevedo
(2006) não existem metais de baixo custo com uma função trabalho maior que
4,5 eV, que seria o mínimo requerido para uma junção ôhmica, então o ouro
tem sido usado na maioria dos casos.
É bem conhecida da tecnologia de semicondutores que não é fácil
se estabelecerem contatos ôhmicos em semicondutores tipo p, no caso do
CdTe materiais com alta função trabalho o requeridos e como foi dito
acima não existem tais materiais com um baixo custo. Com a intenção de
reduzir os custos com o contato metálico, uma nova técnica de contatos tem
sido estudada: atacar a superfície do filme de CdTe com uma solução de HNO
3
e H
3
PO
4
(ataque NP), gerando uma camada delgada de Te nos grãos
individualmente, aumentando a área de contato. Evidentemente esta
transferência é obtida pelo aumento do ataque (SAN MIGUEL, 2003).
Fração absorvida
69
3.1.4 CONFIGURAÇÃO MAIS EFICIENTE
A eficiência teórica máxima para um célula fotovoltaica de CdTe
(homojunção) é de 29,7%, para uma célula com os seguintes parâmetros
; ; ; (FALCÃO 2005).
Em 2002 uma equipe do NREL (National Renewable Energy
Laboratory) nos EUA obteve a melhor eficiência para esse tipo de célula, com
um valor de 16,5 %. Essa célula é composta por uma camada de vidro do tipo
borossilicato. Na camada de óxido transparente condutivo foi utilizada uma
bicamada de CTO com ZnTO (ver Tabela 1), uma camada muito fina de CdS
(0,07 0,1 ìm), depositada pela técnica de banho químico. A camada de CdTe
com aproximadamente 10 ìm, foi depositada através de sublimação em espaço
reduzido e por fim o contato traseiro utilizado foi o grafite com cobre afim de se
conseguir um bom contato ôhmico com o CdTe tipo p. Um esquema ilustrativo
dessa célula é mostrado na Figura 18.
Figura 18 - Estrutura da célula solar CdS/CdTe que detém o recorde de eficiência.
As características quantitativas para a célula em questão são os
seguintes: tensão de circuito aberto , densidade de corrente de
Substrato de vidro de borossilicato
Cd
2
SnO
4
(0,15-0,3μm)
ZnSnO
x
(0,01-0,2μm)
CdTe (~10μm)
Contato traseiro (C:HgTe:Cu
x
Te)
CdS (0,07-0,1μm)
Contato frontal
70
curto circuito , fator de preenchimento e eficiência
.
3.2 O MATERIAL CdTe
O CdTe é um semicondutor do grupo II-VI formado por um
calcogeneto de cádmio. Segundo Nag (1980) existem dois tipos de estrutura
para o cristal de CdTe: esfarelita, de estrutura cúbica e face centrada (fcc) de
grupo espacial (SG) F43M, e também wurtizita, de estrutura hexagonal
compacta de grupo espacial (SG) P6
3
mc. Nas Figuras 19 e 20 pode-se
observar as estruturas esfalerita e wurtzita respectivamente.
A estrutura esfalerita é mais estável, apresenta parâmetro de rede,
de acordo com Joint Committee on Powder Diffraction Standards (JCPDS), de
6,481 Å, para a estrutura wurtzita os parâmetros de rede são: a = 4,57 Å e c =
7,57 Å.
Esse material possui uma energia de banda proibida em torno de
1,45 eV, que é muito próximo do máximo de energia da irradiação solar; além
disso a transição entre as bandas é direta, pois o mínimo da banda de
condução coincide com o máximo da banda de valência. O primeiro fato
possibilita que o mesmo tenha máxima eficiência quântica teórica, já o segundo
o torna um eficiente emissor de luz. Por apresentar energia de banda proibida
direta, o CdTe apresenta alto coeficiente de absorção, maior que 10
4
cm
-1
(ZANIO, 1978).
O CdTe é o único semicondutor do grupoII-VI que pode ser crescido
do tipo p ou do tipo n, mudando apenas os seus parâmetros de crescimento
(YANG, CHOU e UENG, 2009).
71
Devido a propriedades citadas acima e outras propriedades
optoeletrônicas e fotoeletroquímicas, o CdTe é o material mais ideal para ser
aplicado em dispositivos fotovoltaicos (YANG, CHOU e UENG, 2009).
Figura 19 - Estrutura cúbica de face centrada tipo esfalerita (blenda de zinco) do CdTe
Figura 20 - Célula unitária hexagonal compacta tipo wurtzita do CdTe
3.3 CONTATO METÁLICO TRASEIRO
A escolha do substrato, contato metálico é de fundamental
importância para o bom funcionamento da célula, pois a junção
substrato/semicondutor deve ser necessariamente ôhmica.
Na interface metal semicondutor ocorre algo parecido com o que
ocorre numa junção pn de semicondutores, quando o contato os níveis de
Fermi do metal e do semicondutor são diferentes. Dessa maneira um fluxo
de elétrons do lado onde o nível é maior para o lado onde é menor até que haja
Cd
Te
Cd
Te
72
uma igualdade entre os níveis de Fermi dos dois lados. Junto com o equilíbrio
um “entortamento” nas bandas de valência e condução do semicondutor,
podendo formar uma barreira de potencial, a barreira Schottky.
A formação, ou não dessa barreira de potencial, vai depender dos
valores relativos das funções trabalho e afinidade eletrônica do metal e do
semicondutor.
Em geral a formação de um contato Ôhmico com CdTe não é fácil,
especialmente quando se trata do CdTe tipo p. Segundo e Nollet et. al. (2000),
um bom contato com um semicondutor tipo p é obtido quando o material
utilizado possui uma função trabalho maior que a soma da afinidade eletrônica
com o potencial da banda de energia proibida do semicondutor. No caso do
CdTe esse valor fica em torno de 5,6 a 5,7 eV. Não existem metais que
apresentem esse valor para a função trabalho (GRECU et. al. 2000, NOLLET
et. al. 2000, e DEMTSU, 2006).
A definição de junção ôhmica é relativa. Quando usado em um
dispositivo, um contato ôhmico pode ser definido como um contato que não
modifica de maneira visível o funcionamento do dispositivo. Em outras
palavras, a queda de potencial no contato tem que ser insignificante em
comparação com a do dispositivo (POPON, 1985).
Levando todas essas informações em consideração, o titânio cuja
função trabalho fica em torno de 4,5 eV foi escolhido como contato com CdTe
tipo p.
3.4 MORFOLOGIA E ESTRUTURA DE ELETRODEPÓSITOS
A estrutura da camada eletrodepositada é de fundamental
importância, sendo intimamente influenciada pelas variáveis do processo de
eletrodeposição, tais como, potencial ou densidade de corrente, temperatura,
composição do eletrólito e a presença ou não de aditivos e, também, pelas
73
características da superfície do substrato. Os aditivos encontram interesse
particular, uma vez que estes adsorvem tanto na superfície do substrato como
na superfície eletrodepositada em crescimento. Por outro lado, e de forma
significativa, a estrutura de eletrodepósitos depende das propriedades
cristalográficas do metal a ser depositado, enquanto que as características
morfológicas dependem grandemente das condições de eletrocristalização
(BOCKRIS e KHAN, 1993; PLETCHER e WALSH, 1990; BOCKRIS e
RAZUMNEY, 1967; RAUB e MULLER, 1967; EYRING, 1970; CALVO e
MOINA, 1980; NOGUEIRA, 1996; GABE, 1997; RAUBE, 1987; KUZNETSOVA
e KOVARSKII, 1993; SEKAR et. al, 1999 e WINAND, 1991).
O principal fator na determinação da forma de crescimento das
camadas de eletrodepósito é a densidade de corrente ou o potencial, O modelo
de Pletcher (PLETCHER e WALSH, 1990) mostra que a estrutura da camada
de crescimento é, basicamente, determinada pelas velocidades relativas das
etapas associadas à transferência de carga para a formação de um adátomo
ou adíon e, à difusão do adátomo ou adíon na superfície do eletrodo até uma
posição na rede cristalina do metal em crescimento. Logo, o modelo evidencia
que em condições galvanostáticas a estrutura do eletrodepósito é, de fato,
determinada pela densidade de corrente de eletrodeposição. Para baixas
densidades de corrente, quando comparada à densidade de corrente limite em
que o processo é controlado exclusivamente por transporte de massa na
solução, a velocidade de difusão superficial é muito maior que a velocidade de
transferência de carga. Assim, os adátomos atingem posições estáveis na rede
cristalina da camada em crescimento em tempos suficientes, incrementando a
formação de estruturas bem definidas, tais como espirais, blocos ou colunas e
camada por camada. Cabe salientar que, nestas condições de deposição, as
quais não o usuais em prática, é observado que as formas espiraladas de
crescimento originam formas piramidais, decorrentes do crescimento de
discordância em hélice, que acabam colidindo entre si. As estruturas camada
por camada, no entanto, se formam devido à baixa velocidade de nucleação,
quando comparada com a velocidade de crescimento dos núcleos.
74
Por outro lado, a influência do substrato e o efeito de impurezas ou
aditivos no eletrólito de deposição, devem ser considerados. A presença de
substâncias capazes de se adsorverem na superfície pode alterar de forma
significativa o modo de crescimento do eletrodepósito, uma vez que interfere na
difusão superficial e na incorporação dos íons ao depósito.
3.5 DEPOSIÇÃO DO CdTe
Muitas técnicas de deposição de filmes finos tem sido utilizadas para
a obtenção de células solares de CdTe com uma alta eficiência de conversão
solar-elétrica.
Segundo Guimarães (2006) existem oito técnicas comercialmente
viáveis para a deposição do CdTe em células fotovoltaicas. Estas técnicas
estão apresentadas na Tabela 2 juntamente com as características de
temperatura nominal, pressão, espessura do filme e taxa de deposição.
Neste trabalho a técnica escolhida para realizar a deposição dos
filmes finos de CdTe foi a eletrodeposição potenciostática. Essa técnica
apresenta um baixo custo, é realizada com temperaturas relativamente baixas,
se comparada com as outras cnicas elencadas na Tabela 2 e permite a fácil
manipulação dos materiais.
No presente trabalho a deposição dos filmes é realizada em um
banho ácido que teve suas condições ajustadas após sucessivos testes tendo
por base os trabalhos realizados por Chen e Wan (1994), Rakhshani (2001) e
Soliman et. al (2001). Estes trabalhos relatam a obtenção de filmes finos com
tipos de condutividade diferentes, variando apenas o potencial de deposição,
num processo de eletrodeposição potenciostática.
Chen e Wan (1994), propuseram eletrólitos que possibilitam a
deposição do CdTe com a condutividade do tipo p, ou tipo n, variando apenas o
valor do potencial aplicado. Na Tabela 3 estão resumidas as principais
75
características desses banhos. Soliman et al. (2001), realizou estudos baseado
em voltametria cíclica e confirmou os resultados de Chen e Wan, chegando a
conclusão de que a faixa de potencial em que ocorre a formação do
semicondutor CdTe se situa entre -0,48 e -0,65 V, em relação ao eletrodo
saturado de calomelano (SCE). Esses valores são muito próximos dos valores
que podem ser observados na Tabela 3. Esses valores também são coerentes
com a afirmação de Lincot (2005), que diz o seguinte: “os filmes de CdTe são
do tipo n quando depositados próximos ao potencial de deposição do cádmio e
tipo p quando o potencial de deposição é mais positivo, ou seja mais próximo
do potencial de deposição do telúrio”. Segundo Soliman (2001) o potencial
padrão de deposição do telúrio é + 0,31 V (SCE) e segundo Lincot (2005) o
potencial padrão de deposição do cádmio é -0,40 V (NHE), o que representa
um valor de -0,642 V (SCE).
Tabela 2 - Resumo das principais características das técnicas de deposição utilizadas para os
filmes fino de CdTe.
Técnica de deposição Temperatura Pressão Expessura Taxa de deposição
Sublimação em espaço
reduzido
600º C - 750º C ~ 10 torr
1 - 15 μm 1 - 5 μm/min
Deposição por transporte
de vapores
600º C - 700º C ~ 10 - 100 torr
1 - 10 μm 0,1 - 1 μm/min
Deposição por vapores
físicos
400º C - 900º C
~ 10
-6
torr 1 - 5 μm 0,01 - 0,5 μm/min
Puverização catódica
200º C
~ 10
-4
torr 1 - 4 μm ~0,1μm/min
Eletrodeposição
80º C - 90º C 1 atm
1 - 2 μm 0,01 - 0,1 μm/min
Deposição química a
vapor de organometálicos
200º C - 400º C 1 atm
1 - 4 μm 0,01 - 0,1 μm/min
Pirólise com spray
600º C 1 atm
1 - 20 μm ~1μm/min
Filme espesso
~ 25º C 1 atm
5 - 30 μm
Chen e Wan (1994), propuseram eletrólitos que possibilitam a
deposição do CdTe com a condutividade do tipo p, ou tipo n, variando apenas o
valor do potencial aplicado. Na Tabela 3 estão resumidas as principais
características desses banhos. Soliman et al. (2001), realizou estudos baseado
em voltametria cíclica e confirmou os resultados de Chen e Wan, chegando a
conclusão de que a faixa de potencial em que ocorre a formação do
semicondutor CdTe se situa entre -0,48 e -0,65 V, em relação ao eletrodo
saturado de calomelano (SCE). Esses valores são muito próximos dos valores
que podem ser observados na Tabela 3. Esses valores também são coerentes
76
com a afirmação de Lincot (2005), que diz o seguinte: “os filmes de CdTe são
do tipo n quando depositados próximos ao potencial de deposição do cádmio e
tipo p quando o potencial de deposição é mais positivo, ou seja mais próximo
do potencial de deposição do telúrio”. Segundo Soliman (2001) o potencial
padrão de deposição do telúrio é + 0,31 V (SCE) e segundo Lincot (2005) o
potencial padrão de deposição do cádmio é -0,40 V (NHE), o que representa
um valor de -0,642 V (SCE).
As duas soluções presentes na tabela têm as seguintes
especificações: A3 solução de CdSO
4
(0,25 M) + H
2
SO
4
(0,0025 M) + TeO
2
saturado; A8 é uma solução contendo CdSO
4
(1 M) + H
2
SO
4
(0,0025 M) +
TeO
2
saturado.
Tabela 3 - Tipos de semicondutividade de filmes de CdTe obtidos em condições de deposição
variáveis.
Fonte: Chen e Wan (1994).
Solução A3 a 80º C Solução A3 a 90º C Solução A8 a 80º C
-0,50 p p p
-0,52 p p p
-0,54 p p p
-0,56 p n p
-0,58 n n n
-0,60 n n n
0,62 n n n
-0,64 n n n
Semicondutividade
V
dep
/ V (SCE)
A deposição do CdTe ocorre de acordo com o seguinte mecanismo.
Primeiramente, o Te é eletrodepositado no substrato; pois sua deposição
ocorre de maneira mais facilitada, devido ao seu potencial padrão de deposição
ser mais positivo que o do cádmio. Em seguida ocorre uma reação
eletroquímica entre o Te e os íons H
+
. Em seguida uma reação química
envolvendo H
2
Te com íons de Cd
2+
, presentes em grandes quantidades na
solução. O processo completo pode ser descrito pelas reações:
(3.1)
(3.2)
(3.3)
77
As reações mostradas nas equações 3.1, 3.2 e 3.3, ocorrem
simultaneamente, com a aplicação de um potencial constante, em relação a um
eletrodo de referencia de calomelano, com valores entre -0,20 e -0,65 V. A
deposição do CdTe, deve ocorrer em potenciais mais positivos que os
requeridos para a deposição do cádmio metálico, por isso esse valores, estão
justamente abaixo dos valores para a deposição do cádmio metálico (SAN
MIGUEL, 2003).
A eletrodeposição de Te inicia-se como um processo de quatro
elétrons. Quando o eletrodo está coberto com Te, inicia-se a formação de H
2
Te
nas vizinhanças do eletrodo. A partir daí a deposição do Te pode ocorrer por
mais de uma maneira de tal modo que o processo final é uma reação cuja
relação carga-massa é de dois elétrons (MATIAS, 1999).
A eletrodeposição do CdTe é um processo cuja eficiência faradáica
é da ordem de 70 % (MATIAS, 1999).
O é praticamente insolúvel em água. Dessa maneira a
concentração de na solução limitada, como conseqüência disto a
concentração de , na interface eletrodo / eletrólito é muito baixa. Esse é
um importante fator a ser considerado durante o processo de eletrodeposição.
Já a concentração de é elevada, o que faz com que durante a
eletrodeposição do sua concentração, permaneça praticamente
constante. O que pode ser entendido como um ponto positivo, pois para esse
reagente as interferências podem ser praticamente desprezadas.
Densidades de corrente típicas na deposição do
ficam em torno de 0,3 0,5 mA/cm², essa densidade é função da concentração
de Te, da taxa de agitação e da temperatura. Para essas densidades de
corrente típicas a taxa de deposição situa-se entre 120 180 Å/min.
78
4 MATERIAIS E MÉTODOS
Neste capítulo é apresentada uma descrição sucinta dos
equipamentos, reagentes e materiais utilizados na deposição dos filmes. Da
mesma maneira, as técnicas e procedimentos de preparação dos materiais, da
deposição e da caracterização do eletrodepósito de CdTe.
4.1 CÉLULA ELETROLÍTICA
A lula eletrolítica utilizada foi construída em recipiente de vidro,
fechado com tampa de Teflon, contendo quatro orifícios, onde são fixados três
eletrodos: eletrodo de referência (Ag/AgCl, KCl
sat
), eletrodo auxiliar (titânio
metálico) e eletrodo de trabalho (titânio metálico). Este dispositivo era dotado
de termômetro de mercúrio com precisão de 0,01
o
C, tal dispositivo foi utilizado
para se fazer uma monitoração da temperatura durante todo o processo de
deposição.
Após a montagem completa a célula eletrolítica foi colocada sobre
chapa aquecedora magnética para que a temperatura fosse controlada e
estabilizada e a agitação do eletrólito garantida.
Na Figura 21, é possível observar o dispositivo experimental
montado para a realização dos ensaios voltamétricos e de deposição
potenciostática, os eletrodos, o termômetro e o agitador magnético estão
indicados por setas.
79
Figura 21 - Célula eletrolítica completa disposta sobre a chapa aquecedora com agitação
magnética.
4.2 PREPARAÇÃO DO ELETRÓLITO
O eletrólito utilizado neste trabalho foi um banho ácido contendo
uma fonte de ions cádmio (o sulfeto de cádmio hidratado, CdSO
4
.(8/3)H
2
O, da
Vetec, com grau de pureza de 99,97%) e uma fonte de íons telúrio (o dióxido
de telúrio, TeO
2
, da Aldrich Chemicals, com grau de pureza de 99,995%). O pH
do eletrólito foi mantido em 1,8; com a adição de H
2
SO
4
1M. Segundo Chen e
Wang (1994), esse banho é largamente usado e estudado, devido ao fato de
ser possível depositar filmes de CdTe com condutividade tipo p, ou tipo n,
variando-se apenas o potencial de deposição. Este fato justifica sua utilização
para a deposição de filmes finos aplicados às células solares.
Termômetro
Eletrodo de
trabalho
Agitador
magnético
Eletrodo de
referência
Eletrodo auxiliar
80
A quantidade de eletrólito utilizada em cada experimento de
deposição é de, aproximadamente, 50 mL; entretanto, o TeO
2
é praticamente
insolúvel em água, obtendo-se em geral uma solução saturada de TeO
2
. Em
vista disto, a preparação de uma quantidade maior de solução se mostrou mais
adequada. Após sucessivas tentativas, o volume de eletrólito mais adequado
foi de 200 mL.
A preparação do eletrólito seguiu as etapas: Inicialmente, a massa
de TeO
2
é dissolvida em H
2
SO
4
1 M, obtendo-se a concentração final de
0,025 M de H
2
SO
4
que, por sua vez, é a concentração necessária para que o
pH da solução seja em torno de 1,8. Em seguida, dissolveu-se o reagente em
água deionizada sob constante agitação.
O CdSO
4
foi dissolvido facilmente em água deionizada, em
quantidade suficiente para perfazer a concentração de íons Cd em solução
igual 0,25 mol.L
-1
.
4.3 PREPARAÇÃO DOS ELETRODOS
Em todos os ensaios eletroquímicos, foram utilizados três eletrodos:
(a) o eletrodo de referência; este eletrodo consiste de um fio de prata
recoberto com cloreto de prata em contato com solução saturada de
cloreto de potássio: Ag/AgCl/KCl
sat
;
(b) o eletrodo auxiliar; este, por sua vez, era constituído de uma placa de
titânio metálico, com área geométrica exposta de 4,0 cm², soldada a uma
haste de titânio isolada;
(c) o eletrodo de trabalho, era constituído de uma placa de titânio metálico,
com área geométrica exposta de 1,0 cm², soldada a uma haste de titânio
isolada.
81
A Figura 22 exibe a imagem dos três eletrodos utilizados na célula
eletrolítica.
Figura 22 Conjunto de eletrodos utilizados
Antes de serem utilizados, os eletrodos de titânio tiveram a sua
superfície tratada. O tratamento da superfície do eletrodo de Ti consistiu de
ataque químico com solução aquosa de ácido fluorídrico, HF. Em seguida, foi
realizada a limpeza química utilizando consecutivamente os seguintes
solventes: tetracloreto de carbono, isopropanol, acetona, metanol e água
destilada. O substrato de Ti foi imerso em cada solvente e submetido à
agitação ultrassônica durante 2 minutos. Após isto, o eletrodo foi lavado
exaustivamente com água deionizada e secado. Após este procedimento, o
eletrodo foi usado imediatamente. Caso contrário, o eletrodo foi imerso e
guardado em recipiente contendo álcool isopropílico, a fim de manter o seu
estado de limpeza.
O eletrodo de trabalho deve ser isolado. Uma das faces do
substrato, após o procedimento de limpeza, foi isolada com material inerte.
Eletrodo de
referência
Eletrodo de
trabalho
Eletrodo
auxiliar
Termômetro
82
Este feito é para garantir a área a ser depositada pelo CdTe. Na Figura 23, é
possível observar um esquema ilustrativo do processo de isolamento.
Figura 23 - Eletrodo de trabalho isolado, a esquerda tem-se a parte de trás do eletrodo e a
direita a parte frontal do eletrodo onde será concretizada a junção
substrato/semicondutor.
4.4 ENSAIOS VOLTAMÉTRICOS
Os ensaios voltamétricos foram realizados em uma lula
eletrolítica. Nesta os eletrodos foram conectados a um amplificador
operacional, pertencente ao circuito eletrônico do potenciostato MQPG-01
fabricado pela Microquímica Automação LTDA. O amplificador operacional
atuava quando era aplicada uma diferença de potencial entre o eletrodo de
trabalho e o eletrodo de referência, fazendo com que a resistência do eletrodo
de referência aumente e a do eletrodo auxiliar diminua. Assim a corrente
passará entre o eletrodo de trabalho e o auxiliar, evitando que ocorram
distúrbios (como eletrólise, por exemplo) no eletrodo de referência.
Neste trabalho os resultados da voltametria cíclica são de
fundamental importância para a determinação dos potenciais a serem
aplicados para a deposição dos filmes finos de CdTe. Foram realizadas
voltametrias em eletrólitos contendo apenas a fonte de cádmio, em outros
contendo apenas a fonte de telúrio e em outros que continham as duas fontes
em condições de depositar o CdTe. A Figura 24 ilustra um típico voltamograma
para o eletrólito utilizado neste trabalho. Na Figura 24, tem-se o voltamograma
cíclico para deposição do CdTe sobre Ti realizado em um banho ácido
contendo sais cádmio e sais telúrio.
83
Figura 24 - Voltametria cíclica para o banho ácido usado na deposição dos filmes de
CdTe,temperatura do banho 80º C
O eletrodo de trabalho foi mantido em repouso na solução eletrolítica
no potencial E
i
igual +10 mV durante 60 segundos e, em seguida, foi dado o
início da varredura de potencial. Da Figura 24 pode-se ver que o potencial foi
varrido entre 0,6 V e + 0,6 V. De fato, o potencial foi aplicado nesse intervalo
com uma velocidade de varredura de 50 mV.s
-1
. O potencial foi varrido também
entre -0,2 V e + 0,2 V e as condições de realização da voltametria são as
mesmas de crescimento; pH do eletrólito igual a 1,8; temperatura do banho foi
mantida constante em 80
o
C. Nesse trabalho foram utilizados três tipos de
eletrólito; o primeiro contendo apenas a fonte de íons cádmio, o segundo
contendo apenas a fonte de íons telúrio e o terceiro completo contendo as das
fontes.
A Figura 25 ilustra o perfil de voltamogramas de deposição-
dissolução de CdTe. Nesta Figura, tem-se a sobreposição de quatro
-0,6 -0,3 0,0 0,3 0,6
-40,0
-20,0
0,0
20,0
40,0
J / mA.cm
-2
E / V
E
i
84
voltamogramas obtidos de um mesmo eletrólito e de eletrodos de titânio
metálico submetidos exatamente aos mesmos processos de tratamento e
limpeza. As pequenas diferenças entre as curvas são atribuídas a diferenças
nas superfícies dos eletrodos de trabalho utilizado, que apesar de serem de
mesmo material e submetidos aos mesmos tratamentos podem apresentar
diferenças de morfologia em suas superfícies que justificam as diferenças entre
as curvas da Figura 25. Analisando a Figura 25, pode-se perceber a
reprodutibilidade do ensaio, as quatro curvas praticamente se sobrepõem.
-0,6 -0,4 -0,2 0,0 0,2 0,4 0,6
-50,0
-40,0
-30,0
-20,0
-10,0
0,0
10,0
20,0
30,0
40,0
J / mA.cm
-2
E / V
Figura 25 Perfil potenciodinâmico da deposição-dissolução de CdTe sobre substrato de Ti.
Sobreposição dos voltamogramas típicos.
4.5 DEPOSIÇÃO DO CdTe
Após a montagem célula eletrolítica, com o eletrodo de trabalho
devidamente isolado exceto na face de deposição a cuba foi posta sobre a
chapa aquecedora magnética e a temperatura foi ajustada para 80º C,
enquanto o eletrólito era constantemente agitado. Estabilizada a temperatura,
os eletrodos foram conectados ao potenciostato, modelo MQPG-01 fabricado
por Microquímica Automação LTDA, que é programado para aplicar um
85
potencial constante em relação ao eletrodo de referencia, e a intensidade da
corrente em relação ao tempo é então registrada.
Inicialmente são crescidas apenas monocamadas de CdTe sobre o
substrato de titânio com potenciais diferentes, escolhidos com base nos
resultados das voltametrias cíclicas.
Após diversas repetições no ensaio, o tempo de 3h foi escolhido
para o crescimento dos filmes, devido ao fato de o mesmo possibilitar a
formação de filmes com aspectos de aderência, espessura e superfície de
acordo com o esperado. Todos os filmes foram crescidos nas mesmas
condições de tempo, temperatura, pH e concentração de eletrólito, variando
apenas o potencial aplicado em relação ao eletrodo de referencia. Após o
experimento de deposição eletrolítica, as amostras de filmes de CdTe são
submetidas a caracterização de superfície e a análise química deposição.
4.6 ANÁLISE POR DIFRAÇÃO DE RAIOS-X
Através da técnica de difração de raios-X, descrita no item 2.4.8, é
possível estudar a cristalinidade do material e confirmar a formação dos filmes.
Em um cristal, os átomos estão arranjados em uma rede cristalina. Para
algumas direções, os nós desta rede cristalina definem uma família de planos
igualmente espaçados, capaz de refletir os raios-x. Quando a distância entre os
planos e tal que os raios refletidos tenham a mesma fase, estes sofrerão
interferência construtiva produzindo um reforço do sinal refletido.
Neste trabalho foi usado o difratômetro de raio-X, Panalytical (XPert
Pro MPD), disponível nos laboratórios do Departamento de Física da UFC.
Foram realizadas medidas do ângulo de difração (2), variando entre 20º e 60º,
em varredura contínua a meio grau por minuto.
Os resultados foram refinados através do software X’ Pert HighScore
Plus.
86
4.7 CARACTERIZAÇÃO MICROSCÓPICA DO ELETRODEPÓSITO POR
MEV E EDX
A caracterização microscópica do eletrodepósito de CdTe foi
realizada, recorrendo-se as técnicas de microscopia eletrônica de varredura
(MEV), descrita no item 2.4.2 e de análise por espectroscopia de energia
dispersiva por raios-X (EDX), descrita no item 2.4.4, utilizando o microscópio
eletrônico de varredura (Phillips, modelo XL-30), disponível no Laboratório de
Microscopia Atômica do Departamento de Física da UFC, onde se tem
acoplado a câmara de análise espectroscópica. As amostras não necessitaram
de recobrimento metálico a fim de facilitar a sua análise microscópica.
87
5 RESULTADOS E DISCUSSÃO
Neste capítulo serão apresentados os resultados experimentais
obtidos e sua discussão será realizada levando em conta os fundamentos
teóricos e a revisão da literatura apresentados no capítulo 2. Em primeiro lugar,
serão colocados os resultados dos ensaios voltamétricos e de deposição
potenciostática referentes ao estudo da eletrodeposição de filme fino de CdTe
sobre substrato de Ti, juntamente com sua discussão. Em seguida, como uma
conseqüência do estudo da eletrodeposição, serão discutidos os resultados
obtidos da análise microscópica e de difração de raios-X.
5.1 VOLTAMETRIA DE DEPOSIÇÃO-DISSOLUÇÃO DE CdTe SOBRE Ti
Neste trabalho a técnica de voltametria cíclica foi utilizada com o
intuito de se avaliar o comportamento eletroquímico global do processo de
deposição e dissolução de CdTe e identificar os valores de potencial de
deposição deste. Primeiramente, em um eletrólito contendo apenas a fonte de
íons cádmio e, posteriormente, num eletrólito contendo apenas a fonte de íons
telúrio e, finalmente, num eletrólito contendo ambas as fontes.
A Figura 26 abaixo ilustra o voltamograma de deposição-dissolução
de Cd sobre Ti. Tem-se que no potencial de repouso E
i
(+10 mV), surge
corrente catódica, possivelmente evidenciando que para este valor de potencia,
ocorre a deposição de cádmio. É verificado que, para potencias a partir de
-225 mV, a densidade de corrente catódica aumenta abruptamente, indicando a
deposição massiva de dmio. Ao reverter à varredura de potencial (em
-0,6 V), é notado que, praticamente, ocorre a sobreposição do perfil do
voltamograma na região de densidade de corrente catódica. Por outro lado, na
região de densidade de corrente anódica, surge um pico em +230 mV,
88
observando que a densidade de corrente tende a diminuir, aproximando-se de
zero. Este fato pode estar indicando que ocorre praticamente a dissolução total
do cádmio depositado.
-0,7 -0,6 -0,5 -0,4 -0,3 -0,2 -0,1 0,0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7
-100,0
-75,0
-50,0
-25,0
0,0
25,0
50,0
75,0
J / mA.cm
-2
E / V
E
i
Figura 26 - Voltamograma cíclico de deposição-dissolução de Cd em eletrólito com fonte de
ions cádmio.
A Figura 27 mostra o voltamograma cíclico para um eletrólito
contendo apenas a fonte de íons telúrio, partindo-se do potencial inicial (E
i
)
igual a 0,0 V. Este valor de potencial é o potencial de repouso, ou seja, o
potencial em que o eletrodo de Ti foi polarizado durante 1 min. Analisando o
voltamograma, pode se inferir que para o telúrio não um potencial para o
qual haja um aumento abrupto da densidade de corrente. Deste modo, a
deposição de telúrio ocorre de maneira considerável desde valores baixos de
potenciais catódicos, ao se comparar com o perfil voltamétrico observado para
a deposição-dissolução de cádmio (Figura 26).
89
-0,6 -0,3 0,0 0,3 0,6
-30,0
-24,0
-18,0
-12,0
-6,0
0,0
6,0
J / mA.cm
-2
E / V
E
i
Figura 27 - Voltamograma cíclico para um eletrólito contendo apenas TeO
2
, que é a fonte de
telúrio
Na Figura 28 é possível observar a sobreposição dos
voltamogramas; em vermelho para um eletrólito contendo apenas íons cádmio;
em verde para um eletrólito contendo apenas íons Te e em preto para uma
solução contendo ambos os íons. É possível observar nesta figura que o
voltamograma para o eletrólito contendo ambos os íons apresenta forma
semelhante a do que contem apenas íons Cd, mas valores de correntes
limitados pelos valores do voltamograma que contem apenas íons Te.
-0,6 -0,4 -0,2 0,0 0,2 0,4 0,6
-100,0
-80,0
-60,0
-40,0
-20,0
0,0
20,0
40,0
60,0
80,0
J / mA.cm
-2
E / V
Cd
CdTe
Te
Figura 28 Voltamogramas típicos de deposição-dissolução de cádmio, de telureto de cádmio
e telúrio sobre substrato de Ti.
90
A Figura 29 ilustra o perfil potenciodinâmico da deposição-
dissolução de CdTe numa faixa de potencial em torno da qual foram
depositados os filmes finos, sendo indicados os valores de potencial escolhidos
para a deposição potenciostática. Sejam eles: E
1
= -150 mV, E
2
= -165 mV e
E
3
= -180 mV). Estes valores de potencial se situam na região de início da
deposição (próximo ao potencial de nucleação) e na região de deposição
massiva.
-0,2 -0,1 0,0 0,1 0,2
-3,0
-2,0
-1,0
0,0
1,0
J / mA. cm
-2
E / V
E
1
E
2
E
3
Figura 29 - Perfil potenciodinâmico da deposição-dissolução de CdTe sobre substrato de Ti.
5.2 DEPOSIÇÃO POTENCIOSTÁTICA DE FILMES DE CdTe
Segundo Chen e Wan (1994) é possível depositar filmes tipo p e tipo
n, apenas escolhendo o potencial a ser aplicado de maneira oportuna.
Segundo Dias (2003), os filmes de CdTe apresentam uma condutividade do
tipo p quando um excesso de telúrio nos filmes e apresentaram uma
condutividade tipo n quando apresentarem um excesso de cádmio.
91
Tendo em vista o que foi afirmado acima, os potenciais foram
escolhidos de acordo com a análise dos voltamogramas. Com o intuito de se
obter filmes com um excesso de telúrio foram inicialmente aplicados potenciais
da ordem de 300 mV, pois estariam numa região onde haveria uma deposição
intensa de telúrio e uma deposição não tão intensa de dmio, que esse
potencial está localizado no início da intensa descida no voltamograma que
contem apenas a fonte de cádmio.
Entretanto, para potenciais desta ordem, os filmes depositados não
apresentaram boa aderência e sua morfologia era de aspectos dendritico.
Estes aspectos se devem ao fato de que, para esse valor de potencial, ocorrer
a sobrecorrente, ou melhor, incrementar valores muitos altos de densidade de
corrente e, portanto, a deposição massiva de cádmio.
Devido a isto foram realizados vários ciclos de deposição variando o
potencial para valores menores em dulo, deste modo o valor da corrente
diminui proporcionalmente com o potencial. Na Figura 30, a variação a corrente
com o tempo é observada para quatro amostras; onde o potencial foi aplicado
potenciostaticamente com os seguintes valores: -300, -270, -250 e -240 mV.
0 20 40 60 80 100 120 140 160 180 200 220 240
-18,0
-15,0
-12,0
-9,0
-6,0
J / mA.cm
-2
t / min
E = -240mV
E = -250mV
E = -270mV
E = -300mV
Figura 30 - Curva de deposição potenciostática para eletrodepósito de CdTe sobre substrato de
Ti.
92
Na Figura 30, é constatado que, para os potenciais aplicados, a
densidade de corrente variou de 18,0 a 6,0 mA.cm
-2
, diminuindo
proporcionalmente com a diminuição do potencial. É observado
macroscopicamente que os eletrodepósitos obtidos nesta condição não eram
aderentes à superfície do substrato, apresentando-se com aspecto morfológico
dendrítico. Este fato não era esperado; contudo, a formação de dendrita pode
está relacionado à alta densidade de corrente sobre a superfície do eletrodo,
como abordado por diversos pesquisadores (BOCKRIS, 2003; BOCKRIS e
RAZUMNEY, 1967; WINAND, 1991; WINAND, 1994)
Por outro lado, estes resultados indicaram que o valor de potencial
de deposição a ser aplicado deveria ser menor que aqueles valores testados.
Assim sendo, procedeu-se a verificação da deposição nos valores entre
-200 e -100 mV, para os quais os filmes de eletrodepósito de CdTe se
apresentam com morfologia uniforme, homogêneo e aderente. Foram
depositados e caracterizados filmes nos potenciais de -150, -165 e -180 mV,
como já foram sugeridos na seção anterior, através da Figura 29.
Na Figura 31, pode-se observar a curva potenciostática para a
deposição do CdTe a -150 mV. Nesta condição, o filme apresenta-se com boa
aderência e a formação de dendrita não ocorre. Os valores de densidade de
corrente para essa amostra variaram entre 0,15 e 0,28 mA.cm
-2
, que são
valores bem inferiores aos apresentados para as amostras com a aplicação de
potenciais entre -200 e -100 mV.
Baseando-se nesses resultados, foram realizados ensaios
voltamétricos, tendo-se a faixa de potencial varrida entre 0,2 e +0,2 V. O
voltamograma característico de deposição-dissolução do eletrodepósito de
CdTe sobre substrato de Ti é apresentado na Figura 29.
93
Figura 31 - Curva de deposição potenciostática para eletrodepósito com aplicação de potencial
constante em -150 mV.
Na Figura 32 estão ilustradas as curvas potenciostáticas de
deposição para os potenciais de -150, -165 e -180 mV; é possível notar que a
corrente aumenta com o aumento do potencial.
-20 0 20 40 60 80 100 120 140 160 180 200 220 240
-1,80
-1,60
-1,40
-1,20
-1,00
-0,80
-0,60
-0,40
-0,20
0,00
J / mA.cm
-2
t / min
-180 mV
-165 mV
-150 mV
Figura 32 - Curva de deposição potenciostática para eletrodepósito com aplicação dos
potenciais constantes em -150, -165 e -180 mV.
-20 0 20 40 60 80 100 120 140 160 180 200
-0,30
-0,28
-0,26
-0,24
-0,22
-0,20
-0,18
-0,16
-0,14
-0,12
J / A.cm
-2
t / min
94
5.3 CARACTERIZAÇÃO DE SUPERFÍCIE DO ELETRODEPÓSITOS DE
CdTe
A faixa de potencial em que ocorre a deposição de filmes com boa
aderência ao substrato e com morfologia granular e uniforme é estreita. Foram
depositados filmes com essas características nos potenciais -150, -165 e
-180 mV. As Figuras 33, 34 e 35 ilustram a morfologia para o eletrodepósito
crescido no potencial igual a -150 mV.
A superfície é composta de grãos de tamanho variado e de alguns
buracos. De acordo com a literatura (FRITSCHE, et. al., 2001), esta morfologia
poderia conduzir a um curto ou grande escapamento de corrente do dispositivo.
Esta mesma literatura mostra que uma célula solar "boa" é caracterizada por
uma camada compacta com grandes cristalitos na escala da espessura do
filme enquanto uma célula solar "ruim" mostra um grande número de pequenos
cristalitos com muitos furos, que se deve ao controle insuficiente da nucleação
e subseqüente crescimento do filme.
Nesta seção analisadas micrografias para os filmes depositados,
estas possuem três aumentos distintos, 1.000 x, 15.000x e 30.000. Nas Figuras
33, 34 e 35 tem-se os filmes depositados a um potencial de -150 mV, com os
três respectivos aumentos, já nas Figuras 36, 37 e 38 tem-se o mesmo para os
filmes depositados em -165 mV, da mesma maneira ocorre nas figuras 39, 40 e
41, só que para filmes crescidos em um potencial de -180 mV.
Das figuras 33, 34 e 35 vê-se que os filmes depositados a -150 mV,
não apresentam uma morfologia bem definida. Parece que neste potencial
houve uma predominância da nucleação em torno de cristalitos de Te com uma
posterior coalescência.
O trabalho de Matias (1999), que também eletrodepositou CdTe
sobre titânio no laboratório de Filmes Finos da UFC, mostrou que os filmes
95
depositados antes do tratamento rmico, mostravam a mesma morfologia que
os filmes depositados no decorrer deste trabalho.
Figura 33 - Micrografia do filme fino de CdTe depositado em -150 mV, aumento de 1.000X.
Figura 34 Micrografia do filme fino de CdTe depositado a -150 mV. Aumento: 15.000X.
96
Figura 35 - Micrografia do filme fino de CdTe depositado a -150 mV. Aumento: 30.000X.
As Figuras 36,37 e 38 exibem as micrografias para um filme crescido
no potencial de -165 mV. Para esse potencial verifica-se a presença de
pequenos grãos se aglomerando em forma de grumos Para esse potencial bem
como para o potencial de -180 mV o crescimento dos filmes apresenta aspecto
que coincide com a classificação de Winand denominada Dispersão não
orientada; pois não apresenta uma orientação preferencial de crescimento, com
um grande número de cristais. Mas das micrografias pode-se notar que a
superfície é preenchida pelo filme, o que sugere um crescimento orientado pela
base em densidades de correntes moderadas, também do diagrama de
Winand. De acordo com essa classificação em densidades de corrente
moderadas existe tempo para um crescimento lateral, possibilitando desta
maneira, uma cobertura uniforme do substrato.
97
Figura 36 - Micrografia do filme fino de CdTe depositado a -165 mV. Aumento: 1.000X.
Figura 37 - Micrografia do filme fino de CdTe depositado a -165 mV. Aumento: 15.000X.
98
Figura 38 - Micrografia do filme fino de CdTe depositado a -165 mV. Aumento: 30.000X.
As Figuras, 39,40 e 41 ilustram as imagens micrográficas do filme
crescido no potencial de -180 mV. Para esse potencial a morfologia é muito
parecida com a do filme crescido em -165 mV, mas os grãos parecem mais
bem definos, e com tamanho mais uniforme, para esse potencial.
Figura 39 - Micrografia do filme fino de CdTe depositado a -180 mV. Aumento: 1.000X.
99
Figura 40 - Micrografia do filme fino de CdTe depositado a -180 mV. Aumento: 15.000X.
Figura 41 - Micrografia do filme fino de CdTe depositado a -180 mV. Aumento: 30.000X.
100
5.4 ANÁLISE QUÍMICA DO ELETRODEPÓSITO DE CdTe EM FUNÇÃO DO
POTENCIAL DE DEPOSIÇÃO
A estimativa quantitativa da estequiometria do filme eletrodepositado
de CdTe sobre substrato de Ti nos potenciais de -150, -165 e -180 mV foi
realizada usando a técnica de espectroscopia de análise da energia dispersiva
por raios-X, como ilustram as Figuras 42, 43 e 44 respectivamente. Os
espectros apresentados pelas figuras são semelhantes, revelando distintos
picos os quais estão associados ao elemento Cd e ao elemento Te e, também,
ao elemento Ti (constituinte do substrato).
A ausência de outros picos nos espectros correspondentes a
qualquer outro elemento é um resultado importante, pois implica no fato de que
as impurezas estão ausentes ou a sua quantidade é muito pequena, estando
abaixo do limite de detecção (menor que 5%). A razão estequiométrica
estimada de Cd:Te para os valores de potencial de deposição é colocada na
Tabela 4, estando designada em termos de percentual atômica, resultando na
razão igual a 1:1, aproximadamente, embora se verifique uma ligeira variação
nos valores de percentual atômico de Cd e Te. Estes resultados estão de
acordo com aqueles encontrados por Singh, Painuly e Pandey (2009); Luschitz
et al. (2009); Chen e Wan (1994) e Gamboa, Sebastian e Rivera (1998).
.
101
Figura 42 Espectro do filme fino de CdTe eletrodepositado a -150 mV.
Figura 43 - Espectro do filme fino de CdTe eletrodepositado a -165 mV.
102
Figura 44 - Espectro do filme fino de CdTe eletrodepositado a -180 mV.
Tabela 4 Análise composicional de filmes finos de CdTe eletrodepositados em diferentes
potenciais
Amostra E (mV) % at. Te % at. Cd
1 -150 55,64 44,36
2 -165 51,61 48,39
3 -180 50,34 49,66
Estes resultados confirmam o que se espera teoricamente para a
faixa de potencial em que os filmes foram depositados. Isto é, para valores
mais positivos de potencial, a deposição do telúrio ocorre de maneira mais
facilitada e para valores de potencias mais negativos, uma maior deposição
de cádmio. De acordo com o que foi exposto no item 5.2 os filmes depositados
nos potenciais relacionados na Tabela 4 apresentam uma condutividade tipo p
pois apresentam um excesso de Te. Como uma tendência em se aumentar
a proporção de Cd com um aumento no potencial, e de se esperar que para
potenciais maiores que -180 mV haja a deposição de filmes com excesso de
cádmio, neste trabalho filmes depositados em potenciais maiores que esses
não foram ser caracterizados, pois não apresentaram aderência ao substrato.
103
5.5 INFLUÊNCIA DO POTENCIAL DE DEPOSIÇÃO NA ESTRUTURA DO
ELETRODEPÓSITO
Com o intuito de se verificar a ocorrência de orientação preferencial
de crescimento de planos cristalográficos do eletrodepósito de CdTe sobre o
substrato de Ti nas condições experimentais, efetuou-se o exame da estrutura
do depósito por técnica de difração raios-X. Foram realizadas análises por esta
técnica dos eletrodepósitos de CdTe obtidos a diferentes potenciais de
deposição, sejam eles, -150, -165 e -180 mV. Os difratogramas obtidos se
encontram nas Figuras 45, 46 e 47, respectivamente.
É verificado pela Figura 45 que o eletrodepósito crescido a -150 mV
apresenta cinco picos de difração, notando-se os planos (111), (311) e (400)
associados à fase cúbica do CdTe e outros dois picos, referentes ao substrato
de Ti. Observa-se que o pico associado a = 27,64
o
é aquele com maior
intensidade, quando comparado com os demais picos. Este fato pode estar
relacionado com a orientação preferencial de crescimento do eletrodepósito de
CdTe, embora possa haver a influência do substrato, além disso o fato do pico
ser fino evidencia que filme não apresenta muitos defeitos.
Por outro lado, verifica-se na Figura 46, onde se tem o difratograma
para o eletrodepósito crescido a -165 mV que os picos de difração são
similares aqueles apresentados pelo difratograma colocado na Figura 45. Este
mesmo perfil de difração do eletrodepósito de CdTe é observado para o filme
crescido a -180 mV, como ilustrado pela Figura 47.
Com o aumento do potencial de deposição, tem-se a diminuição da
intensidade dos picos associados ao substrato de Ti e, é observado o
incremento da intensidade dos picos referentes ao CdTe, especificamente,
aquele onde se tem o plano cristalográfico (111). Este fato está evidenciando
que o filme eletrodepositado de CdTe, apresenta uma melhor cristalização
devido ao aumento nos picos referentes ao CdTe e torna-se mais espesso, o
que é evidenciado pela diminuição nos picos referentes ao substrato. Isto é, a
104
velocidade de deposição aumenta com o potencial de deposição, ou seja, as
velocidades dos processos de nucleação e de crescimento do eletrodepósito
aumentam.
20 30 40 50 60
0
100
200
300
400
500
600
Intensidade (u.a.)
2(graus)
(111)
(311)
(400)
Figura 45 - Difratograma do eletrodepósito de CdTe obtido a -150 mV.
20 30 40 50 60
0
100
200
300
400
500
600
700
800
Intensidade (u.a.)
2 (graus)
(111)
(311)
(400)
Figura 46 - Difratograma do eletrodepósito de CdTe obtido a -165mV.
105
20 30 40 50 60
0
200
400
600
800
1000
Intensidade (u.a.)
2 (graus)
(111)
(311)
(400)
Figura 47 - Difratograma do eletrodepósito de CdTe obtido a -180mV.
É visto que os planos (111) e (311) associados ao eletrodepósito de
CdTe são relativamente os que apresentam maior intensidade. Estes planos
devem corresponder à orientação relativa da estrutura morfológica obtida no
presente trabalho, como evidenciada no item 4.3. Muitos autores (BOCKRIS,
1993; BOCKRIS e RAZUMNEY, 1967; RAUB e MULLER, 1967; LUSCHIT et
al., 2009; RIBEIRO, CRUZ e AVILLEZ, 2005; SINGH, PAINULY e PANDEY,
2009) citam que o crescimento de eletrodepósito pode possuir distintas
velocidades para diferentes planos cristalográficos exibidos pelo depósito em
crescimento. Assim, o desenvolvimento de orientação preferencial de
crescimento perpendicular à superfície do substrato pode acontecer.
6 CONCLUSÕES
106
Os ensaios voltamétricos realizados para o eletrólito de deposição
mostraram que potencias entre - 100 e - 200 mV, poderiam ser utilizados para
se obter eletrodepósitos de CdTe. Esta faixa de potencial é bastante estreita se
comparada a outras encontradas na literatura. Os potenciais de -150, -165 e -
180 mV foram os que melhor se adaptaram às condições de deposição,
obtendo-se filmes adequados a utilização em dispositivos fotovoltaicos. Apesar
da estreita faixa de potencial em que se consegue depositar filmes adequados,
uma forte dependência da composição dos filmes em relação ao potencial
aplicado foi evidenciada através dos resultados dos ensaios de EDX,
mostrando que a técnica tem potencial para produzir filmes tipo p ou tipo n
variando apenas o potencial de deposição nesta estreita faixa, sem a
necessidade de qualquer outra intervenção.
Os filmes depositados nestes potenciais apresentam morfologia
semelhante para os três potenciais e em concordância com resultados de
trabalhos anteriormente desenvolvidos nos mesmos laboratórios. Os resultados
do EDX revelaram a tendência de filmes com excesso de Te para potenciais
mais positivos e uma diminuição desse excesso para potenciais mais
negativos. Os resultados de DRX sugerem a direção (111) como a orientação
preferêncial de crescimento para os filmes, mostrando uma diminuição para os
picos referentes ao substrato com o aumento do potencial, bem como um
aumento no pico referente ao plano (111), o que sugere um aumento na
espessura em função do potencial aplicado.
7 SUGESTÕES PARA TRABALHOS FUTUROS
107
No decorrer do desenvolvimento deste trabalho, foram identificados
pontos os quais merecem melhor investigação a fim de elucidar o mecanismo
de eletrodeposição de CdTe sobre substrato de Ti, mas também, modificações
nos parâmetros de processo de eletrodeposição e de composição do banho
eletrolítico, com vistas a melhoria da qualidade do depósito que garantam
características semicondutoras com aplicação em células solares fotovoltaicas.
Sendo assim, tem-se abaixo a proposição de alguns trabalhos com estes
enfoques:
- Deposição de filmes finos de CdTe em valores de potencial mais
negativo a fim de se obter filmes com um excesso de Cd;
- Avaliação do tratamento térmico ao eletrodepósito de CdTe em
presença de CdCl
2
;
- Caracterização física e elétrica do eletrodepósito de CdTe;
- Construção de dispositivo (célula solar fotovoltaica) com o CdTe
eletrodepositado e a verificação do desempenho desta célula.
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